Microscopio electrónico de barrido de filamentos de tungsteno

JSM-IT200 InTouchScope™Microscopio electrónico de barrido de filamentos de tungstenoEs un microscopio electrónico de barrido más simple, fácil de usar y rentable.

Con una navegación de intercambio de muestras fácil de entender para principiantes, se puede buscar fácilmente el campo de visión desde el Banco de muestras y comenzar a observar imágenes sem. Zeromag puede buscar campos de visión tan intuitivamente como un espejo de luz, live Analysis * m2 puede obtener resultados de análisis de elementos en tiempo real sin análisis deliberado, smile viewtm Lab puede editar informes de observación y análisis de manera integral, etc., convirtiéndolo en un software para analizar negocios.

¡Observar de inmediato! ¡Analizar de inmediato! ¡Informe de inmediato!

JEOL InTouchScope ™ Las tres funciones de la serie hacen del dispositivo de análisis una herramienta.

■ JSM-IT200 InTouchScope™Microscopio electrónico de barrido de filamentos de tungstenoObservación para iniciar la navegación de intercambio de muestras mientras se completa el intercambio de muestras

La navegación de intercambio de muestras es una función de navegación desde la apertura de la Sala de muestras hasta el inicio del proceso de observación;

¡■ observar de inmediato! Observación de zeromag

La búsqueda del campo de visión y la ubicación del análisis se realizan utilizando la intención de la Mesa de muestra y la imagen óptica de transferencia de carga * 1 mostrada en la ventana principal.

¡■ analizar de inmediato! Análisis de análisis en vivo * m2

Al mostrar el espectro y los elementos de visualización, se puede confirmar el espectro y los elementos principales del campo de visión en observación.

¡■ informe de inmediato! Gestión centralizada de datos de smile viewtm Lab

Después de presionar el icono de gestión de datos y mostrar la ventana de gestión de datos, desde la imagen Sem hasta el análisis, se puede crear un informe por lotes, ver los datos y volver a analizar los datos para todos los datos.