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Sem microscopía electrónica de barrido

modelo
Naturaleza del fabricante
Productores
Categoría de producto
Lugar de origen
Descripción general
La microscopía electrónica de barrido no solo es una herramienta indispensable para llevar a cabo trabajos de investigación científica, sino que también es *, para las fábricas de fabricación que necesitan control de calidad. En estos escenarios, el usuario necesita repetir las mismas operaciones de observación, por lo que completar estas operaciones rápidamente ayuda a mejorar la eficiencia del trabajo. La nueva función "sem simple" de JSM - it510 permite a los usuarios "repetir manualmente la operación" necesaria para la observación de sem, completando así la observación de Sem de manera más eficiente y fácil.
Detalles del producto

New simple Sem

  Sem microscopía electrónica de barridoSolo tienes que elegir la visión del objetivo.

"Simple sem" apoya el trabajo diario

Muestra: componentes electrónicos

Tensión de aceleración: 15 kv, ampliación: × 50 (superior) × 1000 (inferior), señal: be

简单SEM_01-1.jpg


JSM-IT510 InTouchScope™Sem microscopía electrónica de barridoNavegación de intercambio de muestras

¡¡ desde la Guía de intercambio de muestras hasta la observación automática es segura y simple!

1. siga la Guía de navegación para configurar la muestra


样品交换导航.jpg

Medir la altura de la muestra


  2. preparación para la observación por vacío


准备抽真空观察-1.jpg

* 1 el sistema de navegación de la Mesa de muestra (sns) es una opción

* El sistema de navegación de la Mesa de muestras de 2 áreas principales (snsls) es una opción

* 3 la Cámara de la Sala de muestras (cs) es una opción

3. inicio automático de la observación

Imagen automática después de completar el vacío


自动开始观察.jpg


Imagen del agua 1.jpg zeromag

JSM-IT510 InTouchScope ™ El microscopio electrónico de barrido realiza fácilmente una conversión perfecta entre imágenes ópticas y imágenes sem.

La función zeromag simplifica la navegación y proporciona una transición perfecta de una imagen óptica a una imagen sem.

SEM、 Las imágenes ópticas y las intenciones de la Mesa de muestras están todas vinculadas para obtener una visión global de la ubicación del análisis.

Zeromag.jpg


Muestra: tensión de aceleración del fósil de amonídeo: señal de 7kv: be

Imagen de agua 1.jpg análisis en tiempo real / mapa de guía en tiempo real * 2

1. la observación Sem domina la composición de los elementos de la región al mismo tiempo

El análisis en tiempo real es una función que muestra el espectro EDS o el mapa de elementos en tiempo real durante la observación de la imagen. Esta función admite la búsqueda de elementos de destino y proporciona advertencias.

实时分析引导图.jpg

2. análisis simple

Iniciar el análisis de EDS con un máximo de 3 visitas

简单分析.jpg

Water Picture 1.jpg múltiples opciones avanzadas

1. New Low Vacuum Mixed Second Electronic detector (lhsed) *

El nuevo detector puede recopilar señales electrónicas y fotónicas y proporcionar imágenes con alta relación señal - ruido e información morfológica mejorada.


LHSED.jpg

2. New 3D en tiempo real

Las imágenes obtenidas por el nuevo detector be de segmentación multidireccional * pueden mostrarse como imágenes 3D en tiempo real.

Incluso si la muestra tiene fluctuaciones superficiales sutiles, el 3D en tiempo real puede mostrarla claramente y obtener información sobre su profundidad.

实时3D.jpg

Muestra: voltaje de aceleración del tornillo: amplificación de 15kv: señal x100: be

3. montaje

La función de montaje puede obtener automáticamente imágenes de múltiples campos de visión pequeños y empalmarlas en una imagen de campo de visión más grande.


蒙太奇.jpg

Muestra: fósil de amonídeo

Tensión de aceleración: amplificación de 15kv: señal x150: número de campos de visión be: 13 x 13.

4. profundidad de la señal de visualización

Esta función muestra la profundidad de análisis (valor aproximado) de la muestra medida en tiempo real y es muy útil para el análisis de elementos.


显示信号深度.jpg