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Correo electrónico
michael.han@sypht.com.cn
- Teléfono
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Dirección
Parque kechuang, Distrito de wujiang, ciudad de suzhou, Provincia de Jiangsu
Categorías de producto
Safit Science Instrument (suzhou) co., Ltd.
Microscopio electrónico japonés
NegociableActualización en01/30
- modelo
- Naturaleza del fabricante
- Productores
- Categoría de producto
- Lugar de origen
Descripción general
JSM-IT510 InTouchScope amp; trade; El microscopio electrónico japonés no solo es una herramienta indispensable para llevar a cabo trabajos de investigación científica, sino que también es *, para las fábricas de fabricación que necesitan control de calidad. En estos escenarios, el usuario necesita repetir las mismas operaciones de observación, por lo que completar estas operaciones rápidamente ayuda a mejorar la eficiencia del trabajo. La nueva función "sem simple" de JSM - it510 permite a los usuarios "repetir manualmente la operación" necesaria para la observación de sem, completando así la observación de Sem de manera más eficiente y fácil.
Detalles del producto
Water News simple Sem
Basta con seleccionar el campo de visión del objetivo "simple sem" para apoyar el trabajo diario.
Muestra: componentes electrónicos
Tensión de aceleración: 15 kv, ampliación: × 50 (superior) × 1000 (inferior), señal: be
JSM-IT510 InTouchScope™Microscopio electrónico japonésNavegación de intercambio de muestras
¡¡ desde la Guía de intercambio de muestras hasta la observación automática es segura y simple!
1. siga la Guía de navegación para configurar la muestra
Medir la altura de la muestra
2. preparación para la observación por vacío
* 1 el sistema de navegación de la Mesa de muestra (sns) es una opción
* El sistema de navegación de la Mesa de muestras de 2 áreas principales (snsls) es una opción
* 3 la Cámara de la Sala de muestras (cs) es una opción
3. inicio automático de la observación
Imagen automática después de completar el vacío
ZeromagJSM-IT510 InTouchScope™Microscopio electrónico japonésFácil realización de una conversión perfecta entre imágenes ópticas e imágenes Sem
La función zeromag simplifica la navegación y proporciona una transición perfecta de una imagen óptica a una imagen sem.
SEM、 Las imágenes ópticas y las intenciones de la Mesa de muestras están todas vinculadas para obtener una visión global de la ubicación del análisis.
Muestra: tensión de aceleración del fósil de amonídeo: señal de 7kv: be
Análisis en tiempo real / mapa de guía en tiempo real * 2
1. la observación Sem domina la composición de los elementos de la región al mismo tiempo
El análisis en tiempo real es una función que muestra el espectro EDS o el mapa de elementos en tiempo real durante la observación de la imagen. Esta función admite la búsqueda de elementos de destino y proporciona advertencias.
2. análisis simple hasta 3 clics para iniciar el análisis EDS
Múltiples opciones avanzadas
1. New Low Vacuum Mixed Second Electronic detector (lhsed) *
El nuevo detector puede recopilar señales electrónicas y fotónicas y proporcionar imágenes con alta relación señal - ruido e información morfológica mejorada.
2. las imágenes obtenidas por el nuevo detector be de División multidireccional 3D en tiempo real de New pueden mostrarse como imágenes 3D en tiempo real.
Incluso si la muestra tiene fluctuaciones superficiales sutiles, el 3D en tiempo real puede mostrarla claramente y obtener información sobre su profundidad.
Muestra: voltaje de aceleración del tornillo: amplificación de 15kv: señal x100: be
3. montaje
La función de montaje puede obtener automáticamente imágenes de múltiples campos de visión pequeños y empalmarlas en una imagen de campo de visión más grande.
Muestra: fósil de amonídeo
Tensión de aceleración: ampliación de 15 kv: señal x150: número de campos de visión be: 13 x 13
4. profundidad de la señal de visualización
Esta función muestra la profundidad de análisis (valor aproximado) de la muestra medida en tiempo real y es muy útil para el análisis de elementos.
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