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Microscopía electrónica de barrido de Japón

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Descripción general
JSM-IT200 InTouchScope La microscopía electrónica de barrido japonesa es un microscopio electrónico de barrido más simple, fácil de usar y rentable.
Detalles del producto

JSM-IT200 InTouchScope™Microscopía electrónica de barrido de JapónEs un microscopio electrónico de barrido más simple, fácil de usar y rentable.

Con una navegación de intercambio de muestras fácil de entender para principiantes, se puede buscar fácilmente el campo de visión desde el Banco de muestras y comenzar a observar imágenes sem. Zeromag puede buscar campos de visión tan intuitivamente como un espejo de luz, live Analysis * m2 puede obtener resultados de análisis de elementos en tiempo real sin análisis deliberado, smile viewtm Lab puede editar informes de observación y análisis de manera integral, etc., convirtiéndolo en un software para analizar negocios.

¡Observar de inmediato! ¡Analizar de inmediato! ¡Informe de inmediato!

JEOL InTouchScope ™ Las tres funciones de la serie hacen del dispositivo de análisis una herramienta.

■ JSM-IT200 InTouchScope™Microscopía electrónica de barrido de JapónObservación para iniciar la navegación de intercambio de muestras mientras se completa el intercambio de muestras

La navegación de intercambio de muestras es una función de navegación desde la apertura de la Sala de muestras hasta el inicio del proceso de observación.

日本电子扫描电镜

¡■ observar de inmediato! Zeromag observa la intención de la Mesa de muestras y la imagen óptica de transferencia de datos mostrada con la ventana principal * 1 para la búsqueda y análisis de la posición del campo de visión.

日本电子扫描电镜

¡■ analizar de inmediato! Análisis de análisis en vivo * m2 al mostrar el espectro y los elementos de visualización, se puede confirmar el espectro y los elementos principales del campo de visión en observación.

日本电子扫描电镜

¡■ informe de inmediato! Después de que la gestión centralizada de datos smile viewtm Lab presiona el icono de gestión de datos y muestra la ventana de gestión de datos, desde la imagen Sem hasta el análisis, todos los datos pueden crear informes por lotes, ver datos y volver a analizar los datos.

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