Microscopía electrónica de barrido de emisiones de campo

JSM-IT810Microscopía electrónica de barrido de emisiones de campo¡¡ el uso de la tecnología de automatización mejora la eficiencia operativa desde la puesta en marcha del instrumento hasta la observación y el análisis!

JSM-IT810Microscopía electrónica de barrido de emisiones de campoLa serie fe - Sem combina versatilidad y alta resolución espacial para realizar operaciones automatizadas. Las funciones de automatización de imágenes y análisis EDS incorporadas sin codificación hacen que el flujo de trabajo sea más fluido y eficiente. Además, se han añadido algunas funciones para garantizar que todos los usuarios de Sem tengan acceso a datos de alta calidad y una mejor experiencia de usuario. Estas funciones incluyen el paquete de ajuste automático sem, la función de corrección trapezoidal (muy útil en las pruebas ebsd) y la función de reconstrucción 3D en vivo para observar la morfología de la superficie.

El funcionamiento de fe - Sem nunca ha sido tan simple como la serie JSM - it810.

Características principales

1. Función de observación y Análisis automático "neo action"

Operación inteligente, ejecución automática de observaciones SEM y análisis de espectro de energía (eds)

Muestra: Condrulas en condrita Julesberg (L3.6), Voltaje de aterrizaje: 5 kV

2. Función de calibración automática "paquete de ajuste automático sem"

Se utilizan muestras estándar para el ajuste automático de la multiplicación y la calibración de energía EDS de neutralización de haz de electrones. Las inspecciones periódicas garantizan que el equipo esté en buenas condiciones.

3. Función 3D en tiempo real

El detector Semiconductor de cinco secciones puede optar por dispersar la señal electrónica de espaldas. Las imágenes bidimensionales obtenidas de los cuatro segmentos exteriores se pueden utilizar para la reconstrucción de imágenes tridimensionales.

La nueva función Live - 3d permite medir e inspeccionar la estructura topológica de las muestras en tiempo real.

4. EDS integrado

La integración integrada de EDS elimina las barreras entre la observación de Sem y el análisis de elementos de eds. Observe que hay varios modos de análisis en la pantalla, como puntos, superficies, líneas y mapas, que se pueden analizar de inmediato.