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info@chip-nova.com
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Teléfono
15860798525
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Dirección
Habitación 206, edificio norte, edificio weiye, parque de innovación y emprendimiento 11 Torch East road, Distrito de huli, ciudad de xiamen, Provincia de Fujian
Categorías de producto
Xiamen chaoxinxin Technology co., Ltd.
Barra de muestra congelada in situ
NegociableActualización en12/14
- modelo
- Naturaleza del fabricante
- Productores
- Categoría de producto
- Lugar de origen
Descripción general
La barra de muestra de 4 agujeros de la microscopía electrónica de transmisión puede colocar hasta 4 muestras en la microscopía electrónica de transmisión al mismo tiempo, lo que mejora considerablemente la eficiencia de uso de la microscopía electrónica de transmisión en comparación con la barra de muestra de 3 agujeros común en el mercado. El nuevo diseño estructural y el método de cambio de Perilla de alta precisión ayudan a reducir la tasa de deriva y mejorar la calidad de la imagen.
Detalles del producto
CHIPNOVASoportes de muestras múltiples（4Barra de muestra de agujero)Puede ser el máximo4Varias muestras se colocan simultáneamente en el espejo de transmisión, que es común en el mercado.3En comparación con la barra de muestra de agujero, la eficiencia de uso de la microscopía electrónica de transmisión se mejora considerablemente. Nuevo diseño estructural yEl método de cambio de Perilla de alta precisión ayuda a reducir la tasa de deriva y mejorar la calidad de la imagen.
Nuestra ventaja
Baja deriva para proporcionar imágenes de alta calidad
Métodos innovadores de fijación de láminas de cobre flexibles y perillas de alta precisión,Reducir la derivaMejorar la calidad de la imagen.
Diseño innovador para mejorar la eficiencia experimental
1. se puede colocar a la vez4 muestras.
2. el método de control de la perilla de alta precisión es simple y práctico.
Parámetros técnicos
| categoría | proyecto | parámetro |
| parámetros básicos | Cuerpo del postematerial | Aleación de titanio de alta resistencia |
| Diámetro de la muestra | 3 mm | |
| Número de muestras | 4 | |
| ángulo de rotación | Alfa ≥ ± 25 °, prevalecerá el modelo real de microscopía electrónica. | |
| compatibleMicroscopía electrónica | Thermo Fisher / FEI, JEOL, Hitachi | |
| (HR) TEM/STEM | apoyo | |
| (HR) EDS/EELS/SAED | apoyo |
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