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¿¿ cuál es mejor para el microscopio de fuerza atómica?

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Descripción general

◆ la cabeza de detección láser y la Mesa de escaneo de muestras están integradas, estables y confiables; ◆ dispositivos de posicionamiento láser y sonda de precisión, es simple y conveniente reemplazar la sonda y ajustar el punto de luz; ◆ la muestra impulsada por un solo eje se acerca automáticamente verticalmente a la sonda, posicionando con precisión el área de escaneo, haciendo que la punta de la aguja sea vertical al escaneo de la muestra; ◆ el motor controla el modo inteligente de entrada de agujas de detección automática de cerámica eléctrica presurizada, protege la sonda y la muestra; ◆ posicionamiento óptico de la lente objetivo 4x, sin enfoque, observación y posicionamiento en tiempo real del área de escaneo de muestras de la sonda; ◆ el método antisísmico de suspensión de resorte es simple y práctico, y el efecto antisísmico es bueno; ◆ altavoces bloqueados por metal,

Detalles del producto

¿¿ cuál es mejor para el microscopio de fuerza atómica?
◆ la cabeza de detección láser y la Mesa de escaneo de muestras están integradas, estables y confiables;
◆ dispositivos de posicionamiento láser y sonda de precisión, es simple y conveniente reemplazar la sonda y ajustar el punto de luz;
◆ la muestra impulsada por un solo eje se acerca automáticamente verticalmente a la sonda, posicionando con precisión el área de escaneo, haciendo que la punta de la aguja sea vertical al escaneo de la muestra;
◆ el motor controla el modo inteligente de entrada de agujas de detección automática de cerámica eléctrica presurizada, protege la sonda y la muestra;
◆ posicionamiento óptico de la lente objetivo 4x, sin enfoque, observación y posicionamiento en tiempo real del área de escaneo de muestras de la sonda;
◆ el método antisísmico de suspensión de resorte es simple y práctico, y el efecto antisísmico es bueno;
◆ altavoces bloqueados por metal,

¿¿ cuál es mejor para el microscopio de fuerza atómica?Parámetros técnicos

◆ modo de trabajo básico: modo de contacto, modo de toque, medición de la curva de fuerza F - z, medición de la curva RMS - Z
◆ modo de trabajo seleccionado: fricción / Fuerza lateral, amplitud / fase, fuerza magnética y fuerza estática
◆ tamaño de la muestra: Φ ≤ 90 mm, H ≤ 20 mm
◆ rango de escaneo: 20um en dirección xy, 2um en dirección Z (opcional con 10um en dirección xy, 1um en dirección z)
◆ resolución de escaneo: XY a 0,2 nm, z a 0,05 nm
◆ rango de movimiento de la muestra: 0 a 13 MM
◆ ampliación óptica 4x, Resolución óptica 2,5um
◆ la velocidad de escaneo es de 0,6 Hz a 4,34 hz, y el ángulo de escaneo es de 0 a 360 grados.
◆ control de escaneo: XY adopta 18 - bit D / a, Z adopta 16 - bit D / a
◆Microscopía de fuerza atómica multimodoMuestreo de datos: muestreo simultáneo multicanal de 14 - bit A / d, doble 16 - bit A / D
◆ método de retroalimentación: retroalimentación digital DSP
◆ tasa de muestreo de retroalimentación: 64,0 kHz
◆ interfaz de comunicación: usb2.0 / 3.0
◆ entorno de ejecución: sistema operativo Windows XP / 7 / 8 / 10

Alcance de la aplicación

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