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Microscopía de fuerza atómica Industrial

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modelo

Naturaleza del fabricante: Productores

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Descripción general

La microscopía de fuerza atómica industrial (fm - nanoview ls - afm) tiene un tamaño y peso de muestra casi ilimitados, especialmente adecuados para la detección de muestras grandes como discos de cristal, rejillas súper grandes y vidrio óptico.

Detalles del producto

Características del producto:

◆Lograr el gran tamaño de la producción comercialMicroscopía de fuerza atómica Industrial

◆ el tamaño y el peso de la muestra son casi ilimitados, especialmente adecuados para la detección de muestras grandes como discos de cristal, rejillas súper grandes y vidrio óptico.

◆ la Mesa de muestras tiene una fuerte escalabilidad y es muy conveniente realizar la detección in situ mediante la combinación de múltiples instrumentos.

◆ escaneo automático con un solo clic, que puede programar varios puntos de prueba en cualquier momento para realizar pruebas automatizadas rápidas

◆ la muestra se mantiene inmóvil al escanear la imagen, conduciendo la sonda para hacerloImagen de medición de movimiento tridimensional de XYZ

◆ diseño de cabeza de escaneo de pórtico, base de mármol, Plataforma de carga de absorción al vacío

◆ soluciones integradas de amortiguación de vibraciones mecánicas y blindaje de ruido ambiental reducen en gran medida el nivel de ruido del sistema

◆ el motor controla automáticamente el método inteligente de entrada rápida de agujas para la detección automática de cerámica eléctrica presurizada, la sonda de protección y la muestra

◆ editor de usuario de corrección no lineal del escáner, la nanocaracterización y la precisión de medición son mejores98%

Parámetros técnicos:

Modo de trabajo	Modo de contacto, modo de golpeo	ZPlataforma de elevación	Control de accionamiento del motor de paso, paso mínimo10 nm
Modo de selección	Fricción/ Fuerza lateral, amplitud / fase, fuerza magnética / estática	ZascensorItinerario	20 mm (25 mm opcional)
Curva del espectro de fuerza	Curva de fuerza F - z, curva RMS - Z	Posicionamiento óptico	Objetivo óptico de 10x
XYZMétodo de escaneo	Tipo de accionamiento de la sondaEscaneo XYZ	cámara	CMOS digitales de 5 megapíxeles
XYRango de escaneo	más que100um × 100um	Velocidad de escaneo	0.6Hz ~ 30Hz
ZRango de escaneo	más que10um	ángulo de escaneo	0 a 360 °
Resolución de escaneo	horizontal0.2nm， 0,05 nm longitudinalmente	Entorno operativo	Sistema operativo Windows 10
XYMesa de muestras	Control de accionamiento del motor de paso, precisión de movimiento1um	Interfaz de comunicación	USB2.0 / 3.0
XYItinerario móvil	200 × 200 mm (opcional 300 × 300mm)	Instrumentosestructura	Cabeza de escaneo de pórtico, base de mármol
Plataforma de carga de muestras	diámetro200 mm (300mm opcional)	Método de amortiguación	Amortiguación flotante de aire+ cubierta de blindaje acústico (mesa de amortiguación activa opcional)
Peso de la muestra	≤20 kg

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