Microscopía de fuerza atómica de investigación científica (fm - nanoview R - afm), AFM de grado de investigación científica de alto rendimiento y relación calidad - precio.
Características del producto:
◆AFM de grado de investigación científica de alto rendimiento y rentable
◆Admite una variedad de modos de trabajo y una variedad de expansión de módulos funcionales para satisfacer la gran mayoría de las aplicaciones básicas de investigación científica.
◆Diseño estructural abierto que admite opciones funcionales más personalizadas
◆Escáner de cerámica piezoeléctrica de circuito cerrado independiente de tres ejes xyz, mientras realiza posicionamiento de alta precisión y medición de escaneo de alta resolución
◆La medición de escaneo de cerámica piezoeléctrica de circuito cerrado no requiere corrección no lineal, y la nanocaracterización y la precisión de medición son mejores.99,5%
Parámetros técnicos:
Rango de escaneo |
XYCircuito cerrado100 * 100um,ZCircuito cerrado10 um |
Nivel de ruido del sistema |
RMS≤30 pm |
Resolución de escaneo |
XYCircuito cerrado0,2 nm,ZCircuito cerrado0,04 nm |
Punto de muestreo de imagen |
máximo4096 * 4096 |
Velocidad de escaneo |
0.1Hz ~ 100Hz |
Método de amortiguación |
Plataforma de amortiguación flotante de aire o plataforma de amortiguación activa |
Imagen estándarpatrón |
Modo de contacto, modo de golpeteo, imagen de fase,ladoModo de fuerza direccional..LFM(...) |
Modo de medición mecánica |
F-ZCurva de fuerza,RMS-ZCurva,Imagen espectral de fuerza avanzada、MecánicaMapeomedición |
Modo de medición eléctrica |
Modo de Potencia estática..EFM(...), conducción eléctrica力Modo..C-AFM), modo de fuerza de la sonda kelvin..KPFM), modo piezoeléctricoPFM(...), modo de resistencia de escaneo..Ssrm), modo capacitor de escaneoSCM(...) |
Modo de medición magnética |
Modo magnético..MFM),Campo magnético externo modular |
Función de nanograbado |
Grabado mecánico, grabado eléctrico |
Función de control ambiental |
líquidoImágenesModo, modo de control de atmósfera cerrada..especialGas),Modo de control de temperatura integrado de frío y calor..-20℃~200℃(...)、Modo de medición electroquímica |
Función auxiliar óptica |
Microscopio estereoscópico compatible、Microscopio metalográfico positivo、Combinación de microscopio biológico invertido |