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Espectrómetro universal de absorción de rayos X

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Naturaleza del fabricante
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Categoría de producto
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Descripción general
El espectrómetro de absorción de rayos X universal superxafs h3000, fabricado por el fabricante nacional de equipos de Ciencia y tecnología, realiza la especificidad de los elementos y el análisis de la estructura local sin destruir la muestra mediante la detección del entorno vecino cercano y el Estado de Valencia de los átomos, especialmente adecuado para el estudio de mecanismos microscópicos difíciles de resolver por medios de caracterización tradicionales (como xrd y sem). Su aplicación atraviesa muchos campos, desde la ciencia básica hasta la práctica industrial, y se ha convertido en una herramienta clave para conectar la estructura a escala atómica con las propiedades macroscópicas.
Detalles del producto

Guochuang Science and Technology instrumentEspectrómetro universal de absorción de rayos XSuperXAFS H3000


Parámetros básicos

1. modo de trabajo: soporte para la función de barrido rápido cercano; Espectro de absorción en modo de transmisión / fluorescencia de soporte

2. rango energético: 4,5 - 20kev, se puede actualizar a 25kev

3. flujo de luz en la muestra: ≥ 4 × 106fotones/s @7-9 keV

4. resolución energética: 0.5-1.5eV@7-9keV

5. repetibilidad energética: ≤ 30meV@24h

6. precisión del mecanismo de ajuste: paso mínimo de escaneo de energía 0,1ev


Guochuang Science and Technology instrumentEspectrómetro universal de absorción de rayos XSuperXAFS H3000


El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (xafs / xes) es una tecnología no destructiva utilizada para estudiar la estructura local y el Estado electrónico de los materiales. Esta tecnología utiliza la interacción de rayos X con la materia para obtener el espectro de absorción cercana (xanes) de los elementos designados, el espectro de absorción lejana extendida (exafs) y el espectro de emisión de bandas energéticas específicas, que se utilizan para analizar el estado químico y el Estado de Valencia de los elementos, la estructura de coordinación del entorno local alrededor de Los átomos y la detección y medición de las categorías atómicas de coordinación de los elementos, que son medios importantes para caracterizar la estructura de coordinación microscópica de los Materiales cristalinos y amorfos. Xafs / xes se aplica principalmente al análisis del Estado de valencia, estructura de coordinación y estado electrónico de catalizadores, aleaciones, cerámica, contaminantes ambientales, diversos materiales cristalinos y amorfos e iones metálicos en muestras biológicas, así como al estudio de la evolución dinámica de la estructura local de los materiales bajo cambios en el campo térmico, el campo óptico, el campo eléctrico y el campo magnético.


Campo de aplicación del espectrómetro de absorción de rayos X


Estudio del catalizador

Analizar el Estado de Valencia del metal en el centro activo del catalizador (por ejemplo, PT m2)¿⁺ qué?/ Pt¿⁰ qué?), el entorno de coordinación y la distancia atómica revelan el mecanismo de reacción catalítica (como la actividad de reducción de oxígeno del catalizador de pila de combustible).

Seguir la evolución estructural del catalizador en la reacción (como el cambio de Estado de Valencia del catalizador a base de cobre en la reacción de co - oxidación).


Caracterización de nanomateriales

Determinación de la coordinación atómica superficial y la concentración de defectos (como teo) de nanopartículas (como puntos cuánticos, nanoóxidos)Vacantes de oxígeno en nanotubos).

Estudiar la estructura electrónica de la interfaz de los nanocompuestos (como la transferencia de carga eléctrica de nanopartículas metálicas de grafeno).


Análisis de materiales funcionales

Detección de materiales de electrodos de baterías (como licoo)) los cambios de Valencia de los elementos durante el proceso de incrustación / extracción de litio optimizan el rendimiento de la batería.

Análisis de materiales magnéticos (como feEl O¿₄ qué?) Entorno magnético local para explicar el mecanismo de orden magnético.