El espectrómetro de absorción de rayos X multifuncional superxafs m9000 del instrumento nacional de Ciencia y tecnología admite la función de barrido rápido cercano y el espectro de absorción y emisión en modo de transmisión / fluorescencia.
Guochuang Science and Technology instrumentEspectrómetro de absorción de rayos X multifuncionalSuperXAFS M9000
Parámetros básicos
1. rango energético: 4,5 - 20kev, se puede actualizar a 25kev
2. flujo de luz en la muestra: ≥ 4 × 106fotones/s @7-9 keV
3. resolución energética: 0,5 - 1,5 eV@7-9 keV
4. repetibilidad energética: ≤ 30 meV@24h
5. precisión del mecanismo de ajuste: paso mínimo de escaneo de energía 0,1ev
Modo de trabajo
1. admite la función de barrido rápido cercano.
2. apoya el espectro de absorción y el espectro de emisión del modo de transmisión / fluorescencia.
Aspectos destacados de la función
1. personalizar la recolección automática de múltiples muestras para reducir el número de muestras.
2. proporcionar una base de datos de muestras estándar para simplificar el análisis de los usuarios.
3. soporte para la personalización de escenas in situ y orientación profesional de análisis de datos de espectro de absorción.
Guochuang Science and Technology instrumentEspectrómetro de absorción de rayos X multifuncionalSuperXAFS M9000
El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (xafs / xes) es una tecnología no destructiva utilizada para estudiar la estructura local y el Estado electrónico de los materiales. Esta tecnología utiliza la interacción de rayos X con la materia para obtener el espectro de absorción cercana (xanes) de los elementos designados, el espectro de absorción lejana extendida (exafs) y el espectro de emisión de bandas energéticas específicas, que se utilizan para analizar el estado químico y el Estado de Valencia de los elementos, la estructura de coordinación del entorno local alrededor de Los átomos y la detección y medición de las categorías atómicas de coordinación de los elementos, que son medios importantes para caracterizar la estructura de coordinación microscópica de los Materiales cristalinos y amorfos. Xafs / xes se aplica principalmente al análisis del Estado de valencia, estructura de coordinación y estado electrónico de catalizadores, aleaciones, cerámica, contaminantes ambientales, diversos materiales cristalinos y amorfos e iones metálicos en muestras biológicas, así como al estudio de la evolución dinámica de la estructura local de los materiales bajo cambios en el campo térmico, el campo óptico, el campo eléctrico y el campo magnético.