El espectrómetro de fluorescencia de rayos X disperso de longitud de onda física simulix 15 es un instrumento utilizado para analizar la composición de la materia. Utiliza la radiación fluorescente característica producida por la interacción de los rayos X con la materia para su análisis.
Durante más de 40 años, el sistema de espectrómetros rigaku simoulix de fluorescencia de rayos X dispersos de longitud de onda síncrona (wdxrf) se ha utilizado ampliamente como una herramienta de análisis elemental para el control de procesos en industrias que requieren alto rendimiento y precisión, como el acero y el cemento. Casi 1.000 Espectrómetros de fluorescencia de rayos X dispersos de longitud de onda simulix han sido entregados a clientes de todo el mundo. Con estos años de avances tecnológicos, los requisitos de los clientes también se han vuelto * y diversificados.Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda físicaSimultix 15 desarrollado específicamente para satisfacer estas necesidades cambiantes. Ofrece mejoras significativas en el rendimiento, la función y la disponibilidad. El compacto e inteligente simultix 15 es una potente herramienta de análisis de elementos que muestra un rendimiento en muchos campos industriales.
El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda es un instrumento utilizado para analizar la composición de la materia. Utiliza la radiación fluorescente característica producida por la interacción de los rayos X con la materia para su análisis. Los siguientes son los puntos principales de la introducción de este espectrómetro:
1. principio básico: la intensidad de la radiación fluorescente de estas diferentes longitudes de onda se mide mediante el uso de detectores después de dispersar los rayos X incidente a través de la refracción cristalina en diferentes longitudes de onda. Cada elemento tiene sus propias longitudes de onda específicas de radiación fluorescente, que se pueden medir para determinar la presencia de diferentes elementos en la muestra y su contenido relativo.
2. composición del instrumento: el espectrómetro típico de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda incluye una fuente de rayos x, un soporte de muestra, un difractor de cristal, un detector y un sistema de procesamiento de datos. La fuente de rayos X produce rayos X de alta energía, las muestras se colocan en soportes para su análisis, los difractores de cristal se utilizan para dispersar los rayos X incidente, mientras que los detectores se utilizan para medir la intensidad de la radiación fluorescente y transmitir los datos al sistema de procesamiento de datos para su análisis e interpretación.
3. aplicaciones analíticas:Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda físicaSimultix 15Es ampliamente utilizado en Ciencias de materiales, geología, monitoreo ambiental, análisis de metales y otros campos. Puede determinar rápida y no destructivamente la composición de los elementos en la muestra, con alta sensibilidad y un amplio rango de medición.
4. ventajas y limitaciones: ventajas de alta resolución, precisión y reproducibilidad. Sin embargo, puede estar limitado por interferencias de fondo en la detección de elementos de baja concentración y tiene una capacidad de análisis relativamente débil para elementos muy ligeros, como el hidrógeno y el litio.
En resumen, el espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda es una herramienta analítica importante que puede utilizarse para determinar de manera rápida y precisa la composición de los elementos en la materia y desempeñar un papel en muchos campos científicos e industriales.
XRF para análisis de elementos rápidos y precisos
Analizar el berilio (be) al uranio (u) en casi cualquier matriz de muestras. Los indicadores más importantes del control automatizado del proceso son la precisión, la precisión y el rendimiento de la muestra. Con hasta 30 (y 40 opcionales) canales de elementos discretos y optimizados y 4 kW (o 3 kW opcionales) potencia de tubo de rayos x, se puede proporcionar velocidad de análisis y sensibilidad. Combinado con un potente pero fácil de usar software con una amplia gama de funciones de simplificación de datos y funciones de mantenimiento, el instrumento es una herramienta de análisis y medición de elementos.
Análisis automatizado de elementos de radiofrecuencia
Para las aplicaciones de alto rendimiento, la automatización es un requisito básico. Se puede equipar con un muestreador automático de 48 dígitos (asc). Para una automatización completa, la unidad de carga de muestras opcional proporciona alimentación de cinta transportadora derecha o izquierda del sistema de automatización de preparación de muestras de terceros.
Análisis de elementos a través de wdxrf simultáneo
Características
Capas sintéticas, RX-SERIES
El nuevo cristal multicapa sintético "rx85" produce una resistencia de aproximadamente un 30% superior a los cristales multicapa be - ka y B - ka existentes.
Canal xrd
El simultix 15 está equipado con un canal de rayos X que permite el análisis cuantitativo a través de los rayos X y los rayos X.
Cristal Hiperboloide
Los cristales hiperboloides opcionales se pueden equipar a canales fijos. En comparación con los cristales monoculares, la intensidad de los cristales hiperboloides aumenta.
El software mejorado es fácil de usar
El software simultix 15 utiliza la misma barra de proceso de análisis cuantitativo que el software zsx, lo que mejora la operatividad de la configuración de condiciones cuantitativas.
Medidores de ángulo de escaneo pesados y ligeros
El goniómetro opcional de amplio rango de elementos admite semicuantificación sin muestra estándar (fps) y se puede utilizar para la determinación cualitativa o cuantitativa de elementos no convencionales.
Medición BG de oligoelementos
La medición opcional de fondo (bg) del canal fijo mejora así el ajuste de calibración y la precisión.
Control automático de presión (apc)
El sistema APC opcional mantiene un vacío constante en la Cámara óptica para mejorar significativamente la precisión del análisis de elementos ligeros.
Método de relación de dispersión cuantitativa
Cuando se utiliza el método de relación de dispersión Compton para el análisis de minerales y concentrados, el método de relación de dispersión cuantitativa opcional genera un Alfa teórico para la calibración de la relación de dispersión.
Hasta 40 canales fijos
Configuración estándar de 30 canales fijos, se puede optar por actualizar a 40 canales.
automatización
El dispositivo de carga de muestras opcional proporciona alimentación de cinta transportadora del sistema de automatización de preparación de muestras de terceros.
