Plataforma de posicionamiento nanométrico de cerámica piezoeléctrica lineal compacta y compacta

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Descripción del producto:

La Plataforma de nanoposicionamiento lineal compacta nm - 030 adopta una estructura de diseño mecánico cinemático paralelo, y su desplazamiento puede proporcionar un movimiento de 30 micras de recorrido a lo largo de la dirección Z. Su diseño compacto lo convierte en una herramienta ideal para muchas aplicaciones de posicionamiento fotónico y de fibra óptica.

La Plataforma de desplazamiento lineal de nanoposicionamiento del eje Z se basa en la Plataforma de desplazamiento lineal impulsada por cerámica piezoeléctrica.

La Plataforma de desplazamiento nm - 030 se puede utilizar fácilmente en combinación con los sistemas de rotación de desviación XY y piezoeléctrica para proporcionar un posicionamiento de todos los grados de libertad. La versión de circuito cerrado cuenta con sensores de posición de chip de tensión de alta resolución, que permiten movimientos de alta precisión y repetibles, y también pueden compensar el arrastre de la cerámica piezoeléctrica. El sensor está diseñado con un puente de circuito cerrado completo. Puede funcionar en un control de circuito abierto o cerrado.

El nm - 030 es muy adecuado para el posicionamiento preciso a nanoescala de pequeños componentes como espejos y diodos láser, especialmente en aplicaciones que requieren estabilidad a largo plazo.

1. el sufijo "- s" es de circuito cerrado, con sensores de posición incorporados. El sufijo del anillo abierto no lleva "- s, no hay errores lineales, datos de repetición.

2. el voltaje máximo de conducción es de - 20v ~ + 150v. para un uso a largo plazo altamente confiable, se recomienda que el voltaje de conducción sea de 0... + 120v. consulte para un viaje más grande. Salir de la fábrica es un viaje nominal.

3. la resolución es el ruido de posicionamiento. Debido a que el sistema de nanoposicionamiento de cerámica piezoeléctrica no tiene fricción, la resolución del sistema solo está limitada por el ruido del amplificador y la tecnología de medición. Por lo general, se utiliza el valor RMS (1sigma) para la medición y designación.

4. se refiere al valor mínimo de paso móvil de la plataforma piezoeléctrica medido a través del interferómetro, que está determinado principalmente por la resolución DAC del controlador piezoeléctrico. En el mejor de los casos, el valor del paso de desplazamiento correspondiente a 16 - bit en la tabla de parámetros.

5. cargas axiales, cargas superiores consulte, tenga en cuenta que el exceso de carga nominal puede causar daños al mecanismo flexible.

6. consulte la longitud del cable más larga.

7. el peso de la Mesa no incluye el peso de los cables y conectores.

8. Max en la tolerancia indica el valor máximo; Typ. indica el valor de los datos típicos estándar, y el valor real de los datos de medición se dará en el informe de prueba.