El NS - 20uv es un medidor manual de espesor de película de escritorio de alta precisión..Medidor de espesor de película f20 estándar nacional) se basa en la tecnología de interferencia de luz blanca y es muy adecuado para el análisis rápido y sin contacto del espesor de la película en laboratorio o línea de producción.
I. especificaciones específicas
- modelo: NS - 20uv
- principio de medición: interferencia de la luz blanca
- modo de operación: manual de escritorio
- rango de longitud de onda: 190 nm - 1.100 nm
- rango de medición del espesor: 1 nm - 40 micras
- precisión de la medición: 1 nm o 0,2%
- precisión de medición: 0,02 nm
- velocidad de medición única: - 1 segundo
- tamaño del punto: 1,5 mm
Tipo de fuente de luz: lámpara halógeno de tungsteno + lámpara de deuterio
II. principales características del instrumento
1. localización y calibración automática: el software y hardware del NS - 20uv se ha producido e investigado en todo el país, y tiene la función de calibración automática, lo que reduce el problema de la calibración manual frecuente y admite un trabajo estable durante mucho tiempo.
2. sin contacto y alta estabilidad: la medición sin contacto no dañará la superficie de la muestra. El instrumento tiene una precisión nanométrica y una estabilidad estática muy alta (0,02 nm), especialmente adecuada para medir muestras blandas o vulnerables.
3. película multicapa y algoritmo inteligente: puede medir el espesor de cada capa en la película compuesta multicapa. Su algoritmo central puede medir el espesor de la película de gran envergadura con un solo clic, lo que simplifica el proceso de operación.
4. flexible y portátil: como sistema de medición manual, tiene una alta flexibilidad y puede personalizar maletas portátiles para facilitar la medición en diferentes lugares.
III. Áreas de aplicación
Este instrumento se utiliza ampliamente en áreas que requieren pruebas precisas de espesor de película, incluyendo fabricación de semiconductores, paneles de visualización, industria fotovoltaica, recubrimientos ópticos e investigación académica.