Medidor de espesor de película de recubrimiento curvo portátil

NegociableActualización en02/09

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Descripción general

Detalles del producto

El medidor de espesor de película de recubrimiento curvo portátil NS - Touch NIR (medidor de espesor de película de superficie curvada) es un dispositivo portátil diseñado especialmente para medir el espesor de la película de superficie curvada lanzado por acuitik. Capaz de analizar rápidamente los datos del espectro de reflexión de la película en cuestión de segundos y analizar el grosor de las películas monocapa y multicapa. Una sonda portátil Especial facilita la medición de superficies dobladas como gafas, luces, etc.

手持式曲面涂层薄膜测厚仪

I. especificaciones y parámetros

- modelo: NS - Touch NIR

- rango de longitud de onda: 950 nm - 1700 nm

- rango de medición del espesor: 0,1 micras - 250 micras (dependiendo del material)

- precisión: 0,02 μm o 0,4%

- precisión de medición: 0002 μm

- tamaño del punto: 100 μm

- velocidad de medición: > 1 segundo / vez

手持式曲面涂层薄膜测厚仪

2. características principales y escenarios de aplicación

El diseño del NS - Touch NIR presta especial atención a la conveniencia de la operación real y la fiabilidad de los resultados de la medición, y las principales características incluyen:

1. medición conveniente de la superficie doblada: su diseño de sonda portátil es muy adecuado para medir directamente la película de la superficie irregular o doblada, como gafas y pantallas de automóviles, sin necesidad de muestreo complejo.

2. potente algoritmo de software: el algoritmo autocal incorporado puede reducir efectivamente el tedioso trabajo de calibración diaria, y el algoritmo automático de detección de muestras hace que el proceso de medición sea muy intuitivo y fácil de usar.

3. medición precisa de películas ultrafinas: para películas ultrafinas como la capa hidrofóbica (capa hidrofóbica), que solo tiene alrededor de 100 espesores atómicos, el modelo NIR utiliza sus características de banda infrarroja cercana para lograr una medición precisa. También es adecuado para el análisis de espesor de una sola o varias capas de recubrimientos antirreflectantes (ar coating) y películas endurecidas (hard coating).

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