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El sistema de medición de recubrimiento de alta precisión XRF de la serie Bowman k tiene un área medible de 12 pulgadas (304 mm) por 12 pulgadas (304 mm) en piezas de trabajo de no más de 9 pulgadas (228 mm) de altura. El colimador múltiple automático permite seleccionar el tamaño del punto para adaptarse a varios tamaños característicos; Las cámaras zoom permiten la medición en un rango de enfoque de 0,25 a 3,5 pulgadas. La plataforma programable impulsada por servomotores puede lograr un posicionamiento rápido y preciso de muestras programables. El diseño de la puerta en voladizo facilita a los operadores la colocación de muestras.
La función de vista tabular permite visualizar toda la zona medible y el operador puede navegar a cualquier posición con solo hacer clic en el ratón. El joystick incorporado permite al operador mover la plataforma XY desde el panel de control del sistema sin intervención de software. Al igual que todos los demás sistemas Bowman xrf, los sistemas de medición de recubrimiento de alta precisión de la serie k cumplen con los estándares astmb568, iso3497 e IPC - 4552.
XYZ行程: El X: 12 英寸 (304mm) Y: 12 英寸 (304 mm) Z: 9 英寸 (228 mm)
Cámara doble opcional con vista de mesa de trabajo
Mesa de trabajo programable impulsada por servomotores, movimiento preciso, rápido y estable
Tamaño de la cavidad interna (wdh): 24 pulgadas (609 mm), 24 pulgadas (609 mm), 9 pulgadas (228 mm)
Tamaño de la Mesa de trabajo: 12 pulgadas (304,8 mm) x 12 pulgadas (304,8 mm)
Detector de deriva de silicio de alta resolución (sdd)
Diseño de cavidad cerrada
Se pueden medir hasta 5 recubrimientos al mismo tiempo
Joystick incorporado opcional
Dispositivo de parada electrónica incorporado opcional
La puerta en voladizo facilita el acceso a las muestras
Proporcionar opciones RoHS
Los detectores de estado sólido de alta resolución tienen una buena resolución de elementos y no requieren filtros secundarios. La posición máxima se mantiene estable durante mucho tiempo sin necesidad de recalibrar con frecuencia. La disposición geométrica de acoplamiento cerrado del tubo de rayos X y el detector proporciona un mayor número de fotones. Esto permite al sistema Bowman lograr un bajo límite de detección y una precisión relativamente alta en un tiempo de medición relativamente corto.
El software proporcionará un fuerte soporte para el rendimiento del instrumento. Los datos de análisis del medidor de espesor de recubrimiento Bowman tienen un software rico en funciones como soporte, que tendrá una interfaz de usuario intuitiva y una operación simple y amigable. Los datos de medición se pueden recuperar a través del número de lote, y el informe se puede generar con un solo clic. Los usuarios pueden crear nuevas aplicaciones y formatos de informe sin restricciones, todos los resultados se guardan automáticamente en la base de datos del ordenador y todos los niveles de usuario pueden configurar la protección de contraseña.
El sistema de medición de recubrimiento de alta precisión bowmanxrf puede realizar mediciones y análisis de alta precisión de elementos de aluminio 13 a elementos de uranio 92.
Recubrimiento de una sola capa: au, ag, ni, cobre, sn, zinc, etc.
Recubrimiento de aleación: análisis simultáneo del espesor y la proporción de composición de los recubrimientos como la aleación znni y la aleación snpb
Recubrimiento de doble capa: AU / NI / cu, SN / NI / cu, CR / NI / fe, etc.
Recubrimiento de tres capas: AU / PD / NI / cu, etc.
Hasta 5 capas de recubrimiento se pueden analizar
Se pueden analizar 25 elementos al mismo tiempo.
Se puede analizar la concentración de iones metálicos en la solución de galvanoplastia
可分析ROHS有害元素
Bowman ofrece soporte técnico y servicios de radiofrecuencia a los usuarios. En la actualidad, además de la sede en chicago, Estados unidos, Bowman ha establecido oficinas u agencias en más de 20 países de los cuatro continentes del mundo. Bowman siempre se ha comprometido a proporcionar servicios de soporte técnico in situ. Bowman tiene un centro de aplicaciones de demostración, un centro de capacitación y una biblioteca de piezas de repuesto en shanghai, china, y tiene oficinas en shenzhen, Hangzhou y XI 'an. Tiene la capacidad de proporcionar a los clientes un buen programa de detección del espesor del recubrimiento y un servicio post - venta rápido y bueno.
La configuración estándar del sistema de medición de recubrimiento de alta precisión XRF de la serie Bowman k Incluye un colimador múltiple de 4 dígitos (4, 8, 12 y 24 mil); El tamaño opcional es de 2x2mil a 60mil. La distancia focal variable facilita la medición en la zona hundida. La plataforma programable impulsada por el mismo motor puede medir las piezas a través del programa opcional xyz. El programa puede utilizar la coincidencia de patrones y el enfoque automático para garantizar la precisión de la medición.
Al igual que todos los sistemas de medición de recubrimiento de alta precisión Bowman xrf, la serie k está equipada con detectores de deriva de silicio estándar (sdd) y tubos de rayos X de enfoque micro de larga vida.
El dispositivo de rayos X Bowman XRF utiliza el principio de fluorescencia de rayos X para medir el recubrimiento y la composición. Cuando los rayos X de alta energía irradian la superficie de la película metálica, los fotones incidente golpean los electrones internos de la película o los átomos del material base para formar agujeros. La transición electrónica exterior libera la fluorescencia de rayos X característica cuando llena el agujero, y su energía corresponde al número atómico de los elementos uno por uno. a través de la energía de la fluorescencia, podemos saber qué elementos existen en la muestra. a través de la intensidad de la radiofrecuencia, podemos analizar el grosor de la muestra y la composición de cada elemento.
Semiconductores |
placa de circuito |
Galvanoplastia |
coche |
Aeroespacial |
Joyas / joyas |
Conector |
Sujetadores |
Componentes electrónicos |
Marco de alambre |
tubería |
Herramientas de corte |
Rango de medición de los elementos: |
Elemento de aluminio 13 al elemento de uranio 92 |
Tubo de rayos x: |
Tubo de ánodo W de enfoque micro de 50w (50kv y 1ma) (se pueden proporcionar ánodos cr, mo y rh) |
Detector: |
Colimación: detector de estado sólido de silicio con resolución de 190ev o superior |
Número de capas y elementos analizados: |
5 capas (4 capas + base), 10 elementos por capa. Análisis simultáneo de la composición de hasta 30 elementos |
Más parámetros se pueden contactar con nosotros para obtener | |
