El medidor de espesor de la máscara facial del medidor de flexión NS - Touch (portátil) es un excelente sistema de medición de película portátil con una clara ventaja de precio.Se puede utilizar para la prueba del espesor de la película endurecida de las gafas.. capaz de analizar rápidamente los datos del espectro de reflexión de la película en cuestión de segundos y analizar el grosor de las películas monocapa y multicapa. Una sonda portátil Especial facilita la medición de superficies dobladas como gafas, luces, etc.

I,Medición del espesor de la superficie acitik NS - TouchLas principales funciones del instrumento
1. medición del espesor del recubrimiento antirreflectante (ar coating)
- facilidad de operación: medir la película antirreflectante en las gafas de arco y la película antirreflectante en otras lentes ópticas.
2. medición del espesor de la película endurecida (hard coating)
- se puede medir simultáneamente el espesor del recubrimiento duro y la capa de imprimación.
3. medición del espesor de la capa hidrofóbica (capa hidrofóbica)
- la capa hidrofóbica es muy delgada y tiene un espesor de solo unos cien átomos, por lo que es necesario medirla con rayos ultravioleta de longitud de onda corta.
II. características del medidor de espesor de la máscara facial de tabla de flexión NS - Touch (mano)
1. calibración fácil: el algoritmo autocal permite a los usuarios deshacerse del engorroso trabajo de calibración diaria.
2. mejorar la precisión: minimizar la interferencia del reflejo dorsal y garantizar que los resultados de la medición sean más precisos y confiables.
3. operación simple: gracias al algoritmo automático de detección de muestras, el proceso de medición es intuitivo y fácil de usar.
III. especificaciones de los parámetros de la serie NS - Touch
| modelo | NS-TouchUV | NS-Touch | NS-Touch NIR |
| Rango de longitud de onda | 190 nm – 1100 nm | 380 nm – 1050 nm | 950 nm a 1700 nm |
| Rango de medición del espesor1
| 0,02 μm – 40 μm | 0,05 μm – 80 μm | 0,1 μm – 250 μm |
| precisión2
| 0,01 μm o 0,2% | 0,01 μm o 0,2% | 0,02 μm o 0,4% |
| Precisión3
| 0,001 μm | 0,001 μm | 0,002 μm |
| Estabilidad4
| 0,001 μm | 0,001 μm | 0,002 μm |
| Tamaño del punto de luz | de 100 μm | de 100 μm | de 100 μm |
| Velocidad de medición | < 1s(medición única)
| < 1s(medición única)
| < 1s(medición única)
|
| fuente de luz | Lámpara halógena de tungsteno- sí.Lámpara de deuterio
| Lámpara halógena de tungsteno | Lámpara halógena de tungsteno |
| Tamaño de la muestra | Diámetro desde1 mma300 mmO más
| Diámetro desde1 mma300 mmO más
| Diámetro desde1 mma300 mmO más
|
1. depende del material específico
2. película estándar si / sio2 (500 a 1000 nm)
3. calcular la desviación estándar del doble de la placa estándar de sio2 de 500 nm medida 100 veces y tomar la media de la desviación estándar del doble de 20 días de medición efectivos.
4. calcular el promedio de 100 mediciones de la placa estándar de sio2 de 500 nm y duplicar la desviación estándar del promedio de 20 días de medición efectivos.
Ejemplo de medición NS - touch, medición del espesor de la película del recubrimiento antirreflectante (ar coating) en la lente