La máquina integrada Raman láser de microscopía de fuerza atómica (fm - nanoview ra - afm), el diseño integrado de microscopía óptica, microscopía de fuerza atómica y espectrómetro raman, es potente.
Características del producto:
◆Diseño integrado de microscopía óptica, microscopía de fuerza atómica y espectrómetro raman, potente
◆ al mismo tiempo, tiene la función de imagen del microscopio óptico, el microscopio de fuerza atómica y la función de análisis espectral raman, sin influencia mutua.
◆ también tiene funciones de medición óptica bidimensional y medición tridimensional de microscopía de fuerza atómica
◆ la cabeza de detección láser y la Mesa de escaneo de muestras están integradas, la estructura es muy estable y la resistencia a la interferencia es Fuerte.
◆ dispositivo de posicionamiento de sonda de precisión, el ajuste de alineación del punto láser es muy simple
◆ la muestra impulsada por un solo eje se acerca automáticamente verticalmente a la sonda, haciendo que la punta de la aguja sea vertical al escaneo de la muestra
◆ el motor controla el método inteligente de entrada de agujas para la detección automática de cerámica eléctrica presurizada, protege la sonda y la muestra
◆ sistema de posicionamiento óptico súper alto para lograr un posicionamiento preciso de la sonda y el área de escaneo de la muestra
◆ editor de usuario de corrección no lineal del escáner integrado, la nanocaracterización y la precisión de medición son mejores98%
◆ se puede apoyar405 nm, 532 nm, 633 nm, 785 nm, 830 nm, 1064 nm y otras longitudes de onda múltiples
Parámetros técnicos:
Microscopía de fuerza atómica:
Modo de trabajo |
Contactopatrón, golpear suavementepatrón |
Gafas ópticas |
10X |
Modo de selección |
Fricción/.Fuerza lateral, amplitud/.Fase,magnetismo/.Electricidad Estática |
Modo de iluminación |
Sistema de iluminación Kohler |
Curva del espectro de fuerza |
F-Z力Curva,RMS-ZCurva |
Enfoque óptico |
Enfoque manual de preocupación gruesa |
XYRango de escaneo |
50×50um, opcional20×20um,100×100um |
cámara |
500Diez mil píxelesCMOSsensor |
ZRango de escaneo |
5um, opcional2.5um,10um |
pantalla |
10.1Pantalla plana de pulgada con función de medición de imagen |
Resolución de escaneo |
horizontal0,2 nm, longitudinal0,05 nm |
Velocidad de escaneo |
0.6Hz~30Frecuencia Hz |
Tamaño de la muestra |
Φ≤68mm (mm),H≤20mm |
ángulo de escaneo |
0 a 360 ° |
Itinerario de la Mesa de muestras |
25 ×25 mm |
Entorno operativo |
Windows XP / 7 / 8 / 10Sistema operativo |
Objetivo óptico |
5X/10X/ 20X / 50XLente acromática de campo plano |
Interfaz de comunicación |
USB2.0 / 3.0 |
Raman:
Rango espectral de Raman |
200 -3600cm-1 |
resolución |
(...).15cm-1@ 25μm hendidura |
Láser |
532 ± 1 nm, ancho de línea ≤ 0,2 nm(Láseres opcionales de diferentes bandas(...) |
Estabilidad de la Potencia láser |
≤3% P-P (@2hrs) |
Potencia de salida |
0-100mW Ajustable |
Profundidad de corte láser del filtro |
OD8 |
Temperatura de trabajo |
0-40℃ |
Humedad de trabajo |
5 - 80% |
Vida útil del láser |
5000 horas |