El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total (txrf) es un instrumento científico utilizado para el análisis de trazas de múltiples elementos. a través de la tecnología de fluorescencia de rayos X de reflexión total, se realiza una detección rápida y de alta sensibilidad de los principales y trazas (incluidas las ultratrazas) en muestras líquidas, suspendidas, sólidas y contaminantes.
El txrf irradia la superficie de la muestra a través de rayos X incidente en un ángulo muy pequeño (generalmente por debajo de 0,1 °), lo que hace que los rayos X tengan un fenómeno de reflexión total. En este momento, los rayos X incidente ya no se dispersan por la muestra, sino que solo estimulan la materia de nivel micro en la superficie de la muestra y producen un espectro de rayos X característicos. Este proceso reduce significativamente la interferencia de los fotones dispersos en la señal del detector, lo que reduce drásticamente el ruido de fondo (unos cuatro órdenes de magnitud menos que los rayos X convencionales), logrando así la detección de oligoelementos de la magnitud nanok (ng).
Cuando los rayos X incidente en la superficie del portador de la muestra (como una placa de cuarzo) en un ángulo inferior al crítico (generalmente 0,1 ° - 0,5 °), se produce una reflexión total, evitando la absorción y dispersión de los rayos X por el portador; Los átomos de elementos de la muestra (distribuidos uniformemente en la superficie del portador, espesor ≤ 100 nm) se estimulan y emiten fluorescencia de rayos X característicos (xrf); La energía y la intensidad de los rayos X característicos se recogen a través del detector, se identifican los tipos de elementos de acuerdo con la energía y se calcula cuantitativamente el contenido de los elementos de acuerdo con la intensidad.
Características:
Alta sensibilidad y bajo límite de detección: adecuado para el análisis de partículas ultrafinas y oligoelementos.
La cantidad de muestra es pequeña: solo se necesita una micro - actualización o una muestra de microgramo para completar un análisis preciso, especialmente adecuado para el tamaño limitado de la muestra.
Sin efecto de matriz: la configuración geométrica de reflexión total reduce la interferencia del sustrato de la muestra en los resultados de la medición, y el análisis cuantitativo es más simple.
Pruebas rápidas no destructivas: el tiempo de una sola prueba se puede reducir a menos de 5 minutos sin destruir la muestra.
Capacidad de análisis de múltiples elementos: puede detectar una variedad de elementos al mismo tiempo, como cromo, plomo y otros ocho elementos principales de metales pesados, o expandirse a casi 30 elementos según la demanda.
Fácil y seguro de operar: la interfaz táctil es intuitiva y el riesgo de exposición a la radiación es bajo para garantizar la seguridad de los operadores.