El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total (txrf) es un instrumento de análisis de alta sensibilidad basado en la tecnología de fluorescencia de rayos X de reflexión total, que se utiliza principalmente para el análisis cuantitativo y semicuantitativo de oligoelementos multielementos en muestras líquidas, suspendidas, sólidas y contaminantes.
Cuando los rayos X llegan a la superficie de un portador de muestra (como una placa de cuarzo) en un ángulo inferior al crítico (generalmente 0,1 ° - 0,5 °), se produce un reflejo total, evitando la absorción y dispersión de los rayos X por parte del portador. Los átomos de los elementos de la muestra (distribuidos uniformemente en la superficie del portador, espesor ≤ 100 nm) se estimulan, emiten fluorescencia de rayos X característicos (xrf), captan la energía y la intensidad de los rayos X característicos a través de detectores, identifican los tipos de elementos de acuerdo con la energía y calculan cuantitativamente el contenido de los elementos de acuerdo con La intensidad.
Sus funciones centrales incluyen:
análisis de trazas de múltiples elementos: capaz de realizar pruebas cuantitativas o semicuantitativas simultáneas de elementos constantes, secundarios y trazas en muestras como líquidos, polvos y sólidos, cubriendo elementos de aluminio (al) a uranio (u) (excepto gases inertes y elementos minoritarios), el límite de detección del contenido puede ser tan bajo como nanogramos (ng) o incluso yanak. ¿ sí?
reducción del ruido de fondo: al irradiar la muestra con un ángulo de incidencia muy pequeño (generalmente inferior a 0,1 °), el fenómeno de reflexión total reduce significativamente la interferencia de dispersión del sustrato, lo que reduce el límite de detección en varios órdenes de magnitud en comparación con la tecnología convencional de fluorescencia de rayos X y mejora la relación señal - ruido. ¿ sí?
adecuado para una amplia gama de tipos de muestras no es necesario preparar muestras complejas, se pueden analizar directamente muestras de líquidos, polvos o sólidos micro - mejorados, especialmente para pruebas no destructivas de muestras ultra trazas (como muestras biológicas, contaminantes ambientales). ¿ sí?
Estructura del instrumento
Fuente de rayos x: compuesta por un generador de alta tensión y un tubo de rayos x, proporciona rayos X primarios para estimular los elementos a medir en la muestra.
Sistema de camino óptico: incluye aperturas, filtros, ranuras de alineación, monocromadores, etc., para ajustar la geometría y la distribución espectral de los rayos X primarios para satisfacer las necesidades del ángulo de incidencia y la distribución de energía de txrf.
Sistema de inyección de muestra: proporciona soporte de muestra, en su mayoría vidrio de cuarzo, plexiglás, etc., para cumplir con las condiciones de reflexión completa y completar la operación automática de inyección de muestra.
Detector: como componente central de la lectura de datos, hay principalmente detectores de semiconductores, detectores de deriva de silicio (sdd) y detectores sensibles a la posición. en la actualidad, los instrumentos comerciales utilizan principalmente detectores de deriva de silicio.
Sistema de procesamiento de datos: analizar y procesar los datos recogidos por el detector, calcular el tipo y el contenido de los elementos y presentar los resultados en forma de gráficos y así sucesivamente.