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Correo electrónico
info.microscopy.cn@zeiss.com
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Teléfono
13761758023
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Dirección
No. 60 meiyo road, zona de libre comercio, Pudong New area, Shanghai
Categorías de producto
- Soluciones de imagen automatizadas
- Soluciones electroquímicas
- Caja de herramientas de reconstrucción avanzada
- Microscopio óptico
- Microscopía electrónica de doble haz
- Software de análisis de imágenes microscópicas
- Espejo de luz biológica
- Sistema de imágenes microscópicas
- Microscopía electrónica de barrido de emisiones de campo
- Rebanadora
Carl Zeiss (shanghai) Management co., Ltd.
Zeiss microscopía electrónica de doble haz crossbeam 550 samplefab
NegociableActualización en01/19
- modelo
- Naturaleza del fabricante
- Productores
- Categoría de producto
- Lugar de origen
Descripción general
El microscopio electrónico de doble haz Zeiss crossbeam 550 samplefab, como un microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado (fib - sem) desarrollado específicamente para la preparación de muestras tem en la industria de semiconductores, ofrece una excelente flexibilidad, funciones de automatización y diseño fácil de usar, ayudando a la preparación de muestras en la industria de semiconductores a ser más simple y eficiente.
Detalles del producto
Zeiss microscopía electrónica de doble hazBeam cruzado 550 Samplefab
[Descripción del producto[en inglés]
Zeiss microscopía electrónica de doble hazBeam cruzado 550 Samplefab，Como microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado (fib - sem) desarrollado especialmente para la preparación de muestras tem en la industria de semiconductores, proporciona una excelente flexibilidad, funciones de automatización y diseño fácil de usar para ayudar a la preparación de muestras en la industria de semiconductores a ser más simple y eficiente.
[Características del producto[en inglés]
l Interfaz de software estándar de la industria
l Optimizar la configuración para mejorar la estabilidad del equipo y el software
l Totalmente automáticoTEMExperiencia en la preparación de muestras
l In situ..in situ, levantamiento) y no in situ..ex-situ, recogida) flexible y disponible
l Muestreo automático y manual de alta calidad
[áreas de aplicación[en inglés]
Industria electrónica y de semiconductores, análisis de fallos yTEMPreparación de muestras.
[caso de aplicación]
Uso automático y no in situ por separado..ex-situ, recogida) con in situ..in situ, levantamiento) preparación de muestras TEMMuestra de láminas
Adelgazamiento final manual7nmProcesador de proceso, planoTEMLáminas
usarHacia cruzadadentroSTEMDisparo del detector
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