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Guangzhou lingtuo Instrument Technology co., Ltd.
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Sem de escritorio zem18

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Descripción general

Zeyou Technology zem18 escritorio Sem - mejor que el escritorio Sem de alta resolución de 6 nm. Tecnología de vacío rápido de 90 segundos, que admite 200000 veces amplificación e imágenes de doble modo BSE / se. Compatible sin fisuras con accesorios in situ como calefacción / Mesa fría, ampliamente utilizado en nuevos materiales, nueva energía, biomedicina, semiconductores y otros campos, es un escritorio preferido rentable para universidades, instituciones de investigación y empresas.

Detalles del producto

- Presentación del producto

La serie zem de microscopía electrónica de escaneo de escritorio lanzada por zeyou Technology satisface una variedad de escenarios de aplicación con su tecnología de imágenes y portabilidad. Con su posicionamiento y diseño serializado en el mercado nacional, esta serie de productos ha logrado que los indicadores clave de rendimiento, como la claridad de la imagen, la conveniencia de la operación y la integración del sistema, se integren con las normas internacionales.

Con su alta integración y sus diversas opciones de configuración, la serie zem hace que la operación sea sencilla e intuitiva y que incluso los no profesionales puedan dominarla rápidamente. Su software de apoyo soporta todo el flujo de trabajo, desde la preparación de muestras hasta el ajuste de parámetros, pasando por el análisis final de imágenes, proporcionando soluciones integradas y eficientes. La serie zem ha demostrado su capacidad de análisis en muchas industrias, como nuevos materiales, nueva energía, biomedicina y semiconductores, ayudando a los investigadores científicos a explorar en profundidad los misterios del microcosmos. Debido a su alta relación calidad - precio, la serie zem de microscopía electrónica de escaneo de escritorio se ha convertido en el equipo preferido de muchas universidades, instituciones de investigación y empresas.


- parámetros del producto

Indicadores principales ZEM18
Tensión de aceleración Máximo 18kv
resolución Mejor que 6 nm
Ampliación 200000
Tipo de filamento Alambre de tungsteno de alineación previa
Tiempo de cambio 1min30s
Modo de vacío 高真空
Bajo vacío (1 - 60pa) (opcional)
Rango de movimiento de la Mesa de muestras Mesa de muestras de dos ejes
Mesa de muestras de tres ejes (opcional)
Cámara de navegación Navegación óptica
Detector BSE y SE
Ampliar la capacidad EDS、 Mesa de muestra de desaceleración, Mesa in situ

- características del producto

▲ funciones completas: con una variedad de funciones para satisfacer las necesidades de diferentes usuarios.

▲ bombeo rápido de vacío: el bombeo de vacío se completa en 90 segundos, lo que mejora la eficiencia del trabajo.

▲ imagen fluida: la velocidad de imagen es rápida, sin fantasma ni arrastre, mostrando claramente los detalles de la muestra.

▲ voltaje de aceleración: 3 - 18kv ajustable continuamente, 1kv paso a paso, ofrece opciones de voltaje flexibles.

▲ las señales son diversas: se pueden combinar con tres detectores de señales se, BSE y EDS para realizar el análisis de composición y morfología.

▲ expansión rica: tiene una rica función de expansión in situ, compatible con accesorios de microscopía electrónica in situ autodesarrollados, como mesas de calentamiento, mesas de frío tec, etc.