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Edificio 2, edificio 6, sede del Parque Científico y Tecnológico de tianan, 555 norte, Avenida panyu, guangzhou, China 102 - 202
Guangzhou lingtuo Instrument Technology co., Ltd.
Edificio 2, edificio 6, sede del Parque Científico y Tecnológico de tianan, 555 norte, Avenida panyu, guangzhou, China 102 - 202
La serie zem de microscopía electrónica de escaneo de escritorio lanzada por zeyou Technology satisface una variedad de escenarios de aplicación con su tecnología de imágenes y portabilidad. Con su posicionamiento y diseño serializado en el mercado nacional, esta serie de productos ha logrado que los indicadores clave de rendimiento, como la claridad de la imagen, la conveniencia de la operación y la integración del sistema, se integren con las normas internacionales.
Con su alta integración y sus diversas opciones de configuración, la serie zem hace que la operación sea sencilla e intuitiva y que incluso los no profesionales puedan dominarla rápidamente. Su software de apoyo soporta todo el flujo de trabajo, desde la preparación de muestras hasta el ajuste de parámetros, pasando por el análisis final de imágenes, proporcionando soluciones integradas y eficientes. La serie zem ha demostrado su capacidad de análisis en muchas industrias, como nuevos materiales, nueva energía, biomedicina y semiconductores, ayudando a los investigadores científicos a explorar en profundidad los misterios del microcosmos. Debido a su alta relación calidad - precio, la serie zem de microscopía electrónica de escaneo de escritorio se ha convertido en el equipo preferido de muchas universidades, instituciones de investigación y empresas.
| Indicadores principales | ZEM18 |
| Tensión de aceleración | Máximo 18kv |
| resolución | Mejor que 6 nm |
| Ampliación | 200000 |
| Tipo de filamento | Alambre de tungsteno de alineación previa |
| Tiempo de cambio | 1min30s |
| Modo de vacío | 高真空 Bajo vacío (1 - 60pa) (opcional) |
| Rango de movimiento de la Mesa de muestras | Mesa de muestras de dos ejes Mesa de muestras de tres ejes (opcional) |
| Cámara de navegación | Navegación óptica |
| Detector | BSE y SE |
| Ampliar la capacidad | EDS、 Mesa de muestra de desaceleración, Mesa in situ |
▲ funciones completas: con una variedad de funciones para satisfacer las necesidades de diferentes usuarios.
▲ bombeo rápido de vacío: el bombeo de vacío se completa en 90 segundos, lo que mejora la eficiencia del trabajo.
▲ imagen fluida: la velocidad de imagen es rápida, sin fantasma ni arrastre, mostrando claramente los detalles de la muestra.
▲ voltaje de aceleración: 3 - 18kv ajustable continuamente, 1kv paso a paso, ofrece opciones de voltaje flexibles.
▲ las señales son diversas: se pueden combinar con tres detectores de señales se, BSE y EDS para realizar el análisis de composición y morfología.
▲ expansión rica: tiene una rica función de expansión in situ, compatible con accesorios de microscopía electrónica in situ autodesarrollados, como mesas de calentamiento, mesas de frío tec, etc.