Microscopio electrónico de barrido de emisiones de campo Zeiss Sigma

Microscopio electrónico de barrido de emisiones de campo Zeiss Sigma para imágenes y análisis de alta calidad

Detección flexible, rendimiento de análisis del flujo de trabajo de 4 pasos

Combinando el rendimiento analítico con la tecnología de escaneo de emisiones de campo, se utilizan elementos ópticos electrónicos gemin maduros. Varios detectores son opcionales: para imágenes de partículas, superficies o nanoestructuras. El flujo de trabajo semiautomático de cuatro pasos de SIGMA ahorra mucho tiempo: establece los pasos de imagen y análisis para mejorar la eficiencia.

El Sigma 300 es rentable. El Sigma 500 está equipado con algunos detectores geométricos de dispersión trasera, que pueden realizar análisis básicos de manera rápida y conveniente. En cualquier momento, cualquier muestra puede obtener resultados de análisis precisos y repetibles.

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Opciones de detector flexibles para obtener imágenes claras

Más novedosos detectores etse e inlens para obtener información sobre la morfología de la superficie de alta resolución en un alto vacío,

Utilice detectores vpse o C2D para obtener imágenes claras en modo de presión variable.

Se utilizan detectores astem para generar imágenes transmitidas de alta resolución.

Se utilizan detectores hdbsd o YAG para analizar los componentes.

Fácil de usar y fácil de operar

Smartsem touch es un componente adicional de los sistemas operativos existentes para entornos multiusuario, una interfaz de usuario simple que proporciona una operación sencilla para usuarios expertos y usuarios primarios experimentados al mismo tiempo.

Sobre la base del entorno real del laboratorio, el funcionamiento del SEM puede ser un campo especializado para los expertos en microscopía electrónica. Sin embargo, los usuarios no profesionales (por ejemplo, estudiantes, personal poco formado o ingenieros de calidad) también necesitan usar el SEM para obtener datos, por lo que también hay una necesidad de usar el sem. Sigma 300 y Sigma 300 VP tienen en cuenta las necesidades de los usuarios no profesionales, y sus opciones de interfaz de usuario pueden satisfacer las necesidades operativas de expertos en microscopía experimentados y usuarios novatos de microscopía.

Características:

El microscopio electrónico de barrido de emisiones de campo Zeiss Sigma se utiliza para la detección flexible de imágenes claras.

Utilice la detección avanzada para hacer siqma para sus necesidades y caracterizar todas las muestras

Se utiliza un doble detector in - Lens para obtener información sobre la morfología y la composición.

Utilizando la nueva generación de detectores secundarios, se obtienen hasta el 50% de las imágenes de señal. Utilizando el innovador C2D y el detector de presión variable de siama en modo de presión variable, se obtienen imágenes agudas de hasta el 85% de contraste en entornos de bajo vacío.