Microscopía de rayos ultravioleta 410 versa

Microscopía de rayos ultravioleta 410 versaSe compensa la brecha entre el microscopio de rayos X de alto rendimiento y el sistema de tomografía computarizada (tc) que no funciona bien. Xrdia 410 versa ofrece imágenes 3D no destructivas con buena resolución, contraste e in situ de la industria, lo que le permite realizar investigaciones innovadoras sobre una amplia gama de tamaños de muestra. Mejorar el flujo de trabajo de imágenes con esta potente y rentable solución "principal", incluso en diferentes entornos de laboratorio
Tamaño flexible de la muestra y tipo de capacidad 4D e in situ de la industria
El microscopio de rayos X xradia 410 versa ofrece imágenes 3D económicas, flexibles y que le permiten procesar una variedad de muestras y entornos de Investigación. Con el tiempo, las imágenes de rayos X no destructivas pueden conservar y ampliar el uso de sus valiosas muestras. El instrumento logra una resolución espacial real de 0,9 micras, * El tamaño de voxel alcanzable es de 100 nm. la absorción avanzada y el contraste de fase (adecuado para materiales blandos o de baja z) le ofrecen más funciones para superar las limitaciones de los métodos tradicionales de tomografía computarizada (tc industrial).
Las soluciones de xadia versa amplían la investigación científica más allá de los límites de los sistemas de TC de micras y nanómetros basados es es en proyecciones. La tomografía computarizada tradicional depende de la amplificación de una sola etapa, y la xrdia 410 versa utiliza un proceso de dos etapas basado en un sistema óptico de apertura de sincrotrón. Es fácil de usar y tiene un contraste flexible. La resolución de avance a larga distancia (raad) le permite mantener una amplia resolución submicron del tamaño de la muestra en su entorno original y en varios perforadores de campo. La función de escala múltiple no destructiva le permite visualizar la misma muestra a diversas amplitudes, lo que permite caracterizar la evolución (in situ) de las propiedades microestructurales del material entre procesos continuos (4d) o cuando se ven afectadas por condiciones ambientales simuladas.
Además, el sistema de control Scout - and - Scan permite un entorno de flujo de trabajo eficiente a través de la configuración basada en fórmulas, lo que facilita a los usuarios con diversos niveles de experiencia la xradia 410 versa.
　　Microscopía de rayos ultravioleta 410 versaVentaja
La arquitectura xradia versa utiliza una tecnología de amplificación de dos niveles que le permite lograr una resolución a distancia (raad). Al igual que la tomografía computarizada en miniatura tradicional, la imagen de la muestra se amplifica geométricamente. En la segunda fase, el centelleador convierte los rayos X en luz visible y luego los amplifica ópticamente. La reducción de la Dependencia de la ampliación geométrica permite al instrumento xrdia versa mantener una resolución submicron a grandes distancias de trabajo. Esto le permite estudiar eficazmente una amplia gama de tamaños de muestra, incluso en interiores in situ.
Imágenes 3D no destructivas para preservar y expandir el uso de muestras valiosas
Alta resolución espacial tan baja como < 0,9 micras y tamaño de voxel tan bajo como 100 nm
Soluciones avanzadas de comparación para materiales bajos en Z y tejidos blandos
Funciones 4D e in situ de la industria para tamaños y tipos de muestras flexibles
El sistema de control Scout - and - scan, una configuración de flujo de trabajo fácil de usar, es una opción ideal para entornos multiusuario.
Mesa de muestras de carga pesada y viaje de la fuente extendida y la Mesa de detectores
* menos necesidad de preparación de muestras
Navegación fácil a través de múltiples sistemas de detección amplificados
Operación continua a través de tomografía multipunto automática y escaneo repetido