Difractómetro de rayos X / Mesa caliente de alta temperatura de tracción in situ xh1200

El dispositivo in situ diseñado especialmente para el analizador de difracción de rayos X controla con precisión la respuesta en tiempo real del material en múltiples condiciones de acoplamiento de campo, como cambio de temperatura y carga mecánica, y puede adaptarse con precisión a los principales equipos de xrd como brooke, semerfei, ciencias e shimadzu.

Instrumento frutal xh1200:El rango de temperatura RT - 1200 ° C y el suelo estable de temperatura 0,1 ° c pueden lograr un control preciso de la temperatura en múltiples modos de punto fijo, pendiente y sección del programa.

La reflexión / transmisión de la Mesa de muestra es opcional; Diseño de ventana en forma de arco, ángulo de refracción 2theta: ∠ 0 ° ~ ∠ 164 °, utilizando película kapton como ventana;

Soportes personalizables, adaptados a varios modelos de difractores de rayos x, como neo - confucianismo, brooke, semerfei, shimazu, panaco, etc.

Estación fría y caliente xh1200 de xrdCaracterísticas:

- rango de temperatura: - 190 ° C a 600 ° C

- estabilidad de la temperatura: + 0,1 ° C

• ángulo de difracción 2theta: ∠ 0 ° ~ ∠ 164 °

• Material de la ventana: película kapton

- Cámara de ambiente, que permite actualizar el vacío

• Se puede reemplazar la tapa superior para su uso como una mesa normal de frío y calor

Estación fría y caliente xh1200 de xrdparámetro: