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Espectro de estructura fina de rayos X

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Descripción general
El espectrómetro fino de absorción de rayos X es un gran dispositivo experimental científico basado en una fuente de radiación sincrotrón, que mide con precisión la Ley de variación del coeficiente de absorción de los rayos X cerca del borde de absorción de un elemento específico con la energía fotónica (es decir, la estructura fina de absorción de rayos x, XAFS), Para obtener información sobre la estructura local de la escala Atómica del elemento.
Detalles del producto

Espectro fino de absorción de rayos XLa medición espectral de la estructura fina de absorción de rayos X (xafs) utilizando fuentes de luz de rayos X convencionales tiene un buen papel complementario y de expansión en las principales infraestructuras científicas y tecnológicas, como la radiación sincrotrón, así como en instrumentos científicos como el microscopio electrónico y el difractómetro de rayos X. ¡¡ este producto ha sido comprado por la Universidad de pekín, la Universidad de Aeronáutica y Astronáutica de beijing, la Universidad de tianjin, la Universidad de energía eléctrica del Norte de china, la Universidad de qinghai, la Universidad de Anhui y muchas otras universidades, ayudando efectivamente a la investigación científica relevante y el desarrollo de aplicaciones!

X射线精细结构谱

Sistemas de escritorio miniaturizados, fáciles de usar:

· soporte para la función de barrido rápido cercano;

· soporte para funciones extendidas como pruebas in situ;

· diseño altamente ergonómico, operación más conveniente;

· preestablecimiento de parámetros experimentales incorporados para lograr una medición rápida;

· diferentes muestras y diferentes modos de medición cambian automáticamente con un solo clic;

· transmisión remota de datos, visualización en tiempo real de procesos y resultados experimentales para apoyar pruebas no tripuladas;

· soporte técnico de aplicación profesional y soporte de análisis de datos;

· El instrumento tiene la calificación de exención de radiación y múltiples entrelazados de protección de Seguridad para garantizar la seguridad personal y de uso.

Cristal Curvo especial xafs:

· las diferentes superficies de cristal están bien configuradas para lograr la cobertura de varios elementos;

· instalación precontaminada, Plug and play;

· los cristales de flexión especiales se pueden personalizar de acuerdo con los elementos necesarios para lograr el mejor rendimiento.

Espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (xafs)Migración del lado de absorciónMecanismo de escaneo de energía:

· mecanismo de escaneo vinculado;

· lograr una vinculación precisa entre la fuente de luz, el cristal curvo, la muestra y el detector;

· alta precisión y resolución, buena estabilidad.