El espectrómetro de absorción de rayos X es un instrumento de análisis que utiliza Radiación Sincrotrón o fuentes de rayos X de laboratorio para detectar su estructura local a escala Atómica y Estados electrónicos midiendo las características de absorción de los rayos X por materiales. Su tecnología central incluye el espectro de absorción de borde cercano de rayos X y la estructura fina de borde extendido, que puede analizar con precisión el Estado de Valencia química, el entorno de coordinación, la longitud del enlace y el número de coordinación de los elementos objetivo.
Espectrómetro de absorción de rayos XLa medición espectral de la estructura fina de absorción de rayos X (xafs) utilizando fuentes de luz de rayos X convencionales tiene un buen papel complementario y de expansión en las principales infraestructuras científicas y tecnológicas, como la radiación sincrotrón, así como en instrumentos científicos como el microscopio electrónico y el difractómetro de rayos X. ¡¡ este producto ha sido comprado por la Universidad de pekín, la Universidad de Aeronáutica y Astronáutica de beijing, la Universidad de tianjin, la Universidad de energía eléctrica del Norte de china, la Universidad de qinghai, la Universidad de Anhui y muchas otras universidades, ayudando efectivamente a la investigación científica relevante y el desarrollo de aplicaciones!


Sistemas de escritorio miniaturizados, fáciles de usar:
· soporte para la función de barrido rápido cercano;
· soporte para funciones extendidas como pruebas in situ;
· diseño altamente ergonómico, operación más conveniente;
· preestablecimiento de parámetros experimentales incorporados para lograr una medición rápida;
· diferentes muestras y diferentes modos de medición cambian automáticamente con un solo clic;
· transmisión remota de datos, visualización en tiempo real de procesos y resultados experimentales para apoyar pruebas no tripuladas;
· soporte técnico de aplicación profesional y soporte de análisis de datos;
· El instrumento tiene la calificación de exención de radiación y múltiples entrelazados de protección de Seguridad para garantizar la seguridad personal y de uso.
Cristal Curvo especial xafs:
· las diferentes superficies de cristal están bien configuradas para lograr la cobertura de varios elementos;
· instalación precontaminada, Plug and play;
· los cristales de flexión especiales se pueden personalizar de acuerdo con los elementos necesarios para lograr el mejor rendimiento.
Espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (xafs)Prueba de espectro de absorción de rayos XMecanismo de escaneo de energía:
· mecanismo de escaneo vinculado;
· lograr una vinculación precisa entre la fuente de luz, el cristal curvo, la muestra y el detector;
· alta precisión y resolución, buena estabilidad.