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Medidor de espesor de película X - Ray Pioneer XRF - 2020l

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Descripción general

¡El medidor de espesor de película X - Ray X - 2020 del medidor de espesor de película X - Ray Pioneer del medidor de espesor de película XRF - 2020l observa el espesor de la película de prueba rápida y no destructiva a través de la lente CDC $r $n medición de $r $n chapado en oro, plata, níquel, zinc, estaño, cromo, cobre, aleación de níquel galvanizado y así sucesivamente! $r $n puede medir recubrimiento único, recubrimiento doble, recubrimiento múltiple y recubrimiento de aleación.

Detalles del producto

Medidor de espesor de recubrimiento microp XRF - 2020 medidor de espesor de película


Medidor de espesor de película X - Ray Pioneer XRF - 2020l

Es unXEquipos de detección no destructivos para el principio de fluorescencia de rayos X

¿‌ sí?

Medir el espesor del recubrimiento en la superficie metálica estimulando los elementos del recubrimiento para producir rayos característicos y analizando su resistencia

Adecuado para la galvanoplastia,Control y análisis de calidad en la fabricación electrónica, semiconductores y otras industrias.


Parámetros técnicosY el principio de funcionamiento

XRF-2020Medidor de espesor de recubrimiento de la serieLa tecnología central es¿‌ sí?XAnálisis espectral de fluorescencia de rayos X¿‌ sí?:

Alta energíaXCuando los rayos irradian las muestras, los elementos de recubrimiento se estimulan para liberar la fluorescencia característica.

Después de capturar la señal, el detector se calcula a través de un algoritmo.RecubrimientoEspesor.


concretoLos parámetros incluyen:¿‌ sí?

EsenciaPrecisióngrado¿‌ sí?:

Error de medición del recubrimiento de una sola capa±5%Dentro
El error de recubrimiento de varias capas aumenta ligeramente con el aumento del número de capas.:

Positivo y negativo en la superficie5%, segunda capa positiva y negativa10%,Tercer piso15%.¿‌ sí?

¿‌ sí?Alcance de la medición¿‌ sí?:0.02-30umSe puede detectar oro, níquel, cobre, estaño, plata, etc.12Especies de elementos,

Análisis máximo5Recubrimiento compuesto de capa


(por ejemploAu / Ni / CuOSn / Ni / Cu,Ag / Ni / Cu ,Sn / Ni / Al):Sin límite de fondo

¿‌ sí?

Tiempo de detección¿‌ sí?: solo se necesita una sola prueba10- -30 segundos

La serie XRF - 2020 está equipada con enfoque automático


Campos de aplicación y estándares de la industria

El equipo satisface las necesidades de pruebas industriales de alta precisión, y los principales escenarios incluyen:

¿‌ sí?Electrónica y semiconductores¿‌ sí?:Conectores de cinco terminales, etc.Pin de chipesperar.¿‌ sí?

¿‌ sí?Automoción y aeroespacial¿‌ sí?: detección de recubrimientos de níquel - cromo en componentes del motor

¿‌ sí?Galvanoplastia y hardware¿‌ sí?:mediciónRecubrimiento de aleación de zinc - níquelY pruebas de contenido de zinc y níquel


El medidor de espesor de película X - Ray Pioneer XRF - 2020l se muestra en la siguiente imagen.

Medidor de espesor de película X - Ray microchip XRF - 2020Los tres modelos son encimeras totalmente automáticas.

Enfoque láser automático, medición automática multipunto

¡ se puede medir el chapado en oro, plata, níquel, zinc, estaño, cromo, cobre, aleación de níquel galvanizada, etc.

Medir el recubrimiento único, el recubrimiento doble, el recubrimiento múltiple y el recubrimiento de aleación.

Medidor de espesor microp XRF - 2020
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Medidor de espesor de recubrimiento de rayos x, medidor de espesor de recubrimiento de fluorescencia de rayos x:


Medidor de espesor microp XRF - 2020

Medidor de espesor de recubrimiento X - Ray medidor de espesor de película
Detección del espesor de todo tipo de capas de galvanoplastia, detección de materiales entrantes, etc., sin límite de sustrato



Medidor de espesor de película X - Ray Pioneer XRF - 2020l