Las principales características de la microscopía electrónica de emisión de campo jeol de segunda mano Sem + edx + ebsd son: el sistema eléctrico que aplica la tecnología de pistola electrónica Schottky sumergida; El sistema TTLS (through - the - Lens system), que utiliza GB (modo gentilbeam) y varios detectores para observar y seleccionar señales de alta resolución a baja tensión de aceleración; Lente híbrida superpuesta electrónicamente.
Detalles del producto
Microscopía electrónica de emisión de campo jeol de segunda mano Sem + edx + ebsdParámetros técnicos
JSM-7200F JSM-7200FLV
resolución
1,0 nm (20kV), 1,6 nm (1kV)
1,0 nm (20kV), 1,6 nm (1kV), 1,8 nm (30kV, LV)
Ampliación
× 10 ~ × 1.000.000 (tamaño de la fotografía de 120 mm x 90 mm); × 30 ~ × 3.000.000 (pantalla de 1280 x 960 píxeles);
Tensión de aceleración
0.01kV a 30kV
Haz
1 pA a 300 nA
Lente de control de ángulo de apertura automática ACL
Incorporado
Modo de gran profundidad de campo
Incorporado
Detector
Detector de alto nivel (ued), detector de bajo nivel (led)
Microscopía electrónica de emisión de campo jeol de segunda mano Sem + edx + ebsdJapan Electronics (jeol) JSM - 7200f es un microscopio electrónico de barrido de emisiones de campo térmico de alto rendimiento (fe - sem), que se centra en la capacidad de Observación de alta resolución y baja tensión, y se utiliza ampliamente en la investigación de vanguardia y la inspección de calidad industrial, como la ciencia de materiales, semiconductores y nanotecnología.
I. tecnologías y ventajas básicas
Cañón de electrones de lanzamiento de campo térmico Schottky sumergido
La tecnología derivada del modelo insignia JSM - 7800f Prime proporciona una fuente electrónica de alto brillo y alta estabilidad.
La corriente de la sonda puede alcanzar los 300 na, teniendo en cuenta las necesidades de imágenes de alta resolución y análisis de elementos del espectro de energía (eds).
Objetivo híbrido (tipo superpuesto de campo electromagnético)
Combinando la lente magnética con la lente estática, la diferencia de bola es menor y la resolución se mejora significativamente.
Manteniendo la gran distancia de trabajo y la facilidad de uso del diseño tradicional de Out - lens, los materiales magnéticos se pueden observar directamente.
Sistema de señal en espejo TTLS + modo de haz suave GB
TTLS (through - the - Lens system): adquisición eficiente de señales débiles a baja tensión a través de detectores en el espejo.
Modo GB (bentle beam): aplicar un sesgo a la muestra para lograr una imagen de baja aceleración y alta resolución, reduciendo efectivamente la carga y el daño de la muestra.
Admite la separación y adquisición simultáneas de señales electrónicas secundarias (se) y electrónicas de dispersión trasera (bse).
II. parámetros técnicos clave
Cañón de electrones: lanzamiento de campo térmico Schottky (sumergido)
Tensión de aceleración: 0,1 V - 30 kV (ajustable continuamente)
Resolución espacial
Alta tensión (15 kv): 0,8 nm
Baja tensión (1 kv): 1,3 nm
Haz: 300 na
Mesa de muestra: 5 ejes totalmente automático / semiautomático (x / y / z / inclinación / rotación)
Detector estándar
Detector electrónico secundario de alto nivel (usd)
Detector de electrones secundarios / retrodispersión dentro del espejo (ttls - se / bse)
Función de selección: análisis de espectro de energía eds, difracción de retrodispersión electrónica ebsd, modo de transmisión stem, cámara ambiente de muestra de gas
III. principales áreas de aplicación
Ciencia de materiales: análisis morfológico y estructural de nanomateriales, materiales bidimensionales, aleaciones metálicas, cerámica y polímeros.
Semiconductores / microelectrónica: chips, fotorresistentes, MEMS、 Detección de defectos y análisis de fallos encapsulados.
Ciencias de la vida: observación morfológica de alta resolución de tejidos biológicos, células, virus y biomoléculas.
Geología y medio ambiente: caracterización de microzonas de minerales, aerosoles y microplásticos.
Automóviles / aviación: control de calidad e investigación y desarrollo de materiales compuestos, catalizadores y recubrimientos.
