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Espectro de absorción transitorio

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Descripción general
Espectro de absorción transitorio, dedicado a medir la transición entre Estados cuánticos en muestras estimuladas por la luz. La medición de ta es adecuada para los tipos de muestras líquidas y sólidas.
Detalles del producto

Espectro de absorción transitorioSe utiliza específicamente para medir la transición entre Estados cuánticos en muestras estimuladas por la luz. La medición de ta es adecuada para los tipos de muestras líquidas y sólidas.
Las muestras del Estado del suelo se estimulan al estado emocionado a través de pulsos láser fuertes. Los pulsos pueden inducir intermediarios de corta vida, como electrones, radicales libres o iones de niveles más altos de energía. En el caso de líquidos y películas, el proceso de desexcitación se monitoriza midiendo la transmisibilidad / Absorbancia de los haces de luz blanca que pasan por la muestra o la reflectividad de la muestra en el caso de muestras a granel en polvo y opacas. Los haces de luz blanca son producidos por lámparas de xenón. Las funciones proporcionadas por el sistema permiten medir la fluorescencia y la fosforescencia inducidas por pulsos láser. A través de la expansión electroquímica, se pueden estudiar muestras sólidas sumergidas en electrolitos. Al examinar muestras en contacto con electrolitos, se puede aplicar un potencial de sesgo adicional durante el experimento. Esto proporciona un parámetro de control adicional y amplía la flexibilidad del experimento.


Espectro de absorción transitorioParámetros medidos:

La transmitancia / absorción o reflectividad de la muestra (expresada en una escala de tiempo de nanosegundos),Espectro de fluorescencia inducido por láser

La vida útil de los transeúntes estimulados por la luz,La intensidad del haz láser en la entrada y salida de la Cámara de muestra,Propiedades I - V de muestras electroquímicas (extensión química cargada).

Corriente eléctrica entre la muestra y el electrolito durante el pulso láser (utilizando un Potenciómetro analógico)


El sistema contiene las siguientes configuraciones:

Sala de muestras cerrada.

Lámparas de xenón con sistema de refrigeración por agua y generador de pulsos.

El láser, generalmente nd: yag, puede elegir armónicos de alto orden o incluso oppo.

Rejillas para rangos espectrales ultravioleta, vis e ir.

Osciloscopio

Tubo Fotomultiplicador

Un cronómetro que sincroniza todos los componentes del sistema.

La estación de trabajo electroquímica proporciona todas las características de las muestras electroquímicas.

Placa de Petri electroquímica con electrodos de platino y referencia AG / agcl1.


Sala de muestras

La Cámara de muestras protegerá la configuración de medición de la luz difusa de fondo y el campo electromagnético externo. Está equipado con un sistema de Seguridad que desconecta la fuente de alimentación de la lámpara de xenón y la fuente láser después de abrir la cámara, así como un sistema que instala de forma sencilla y estable una variedad de Dispositivos experimentales diferentes.

Se pueden proporcionar dispositivos de medición interna con diferentes rutas ópticas y placas de Petri de muestras, que se pueden ajustar de acuerdo con sus respectivos requisitos experimentales.


Parámetros técnicos:

Sala de muestras

Desconecte el sistema de Seguridad de la luz de xenón y la fuente de alimentación del láser cuando la Cámara de muestra esté abierta,Instalar una variedad de Dispositivos experimentales diferentes de manera fácil y estable utilizando una placa de Petri de muestra,Dos fotodiodos: ubicados en la entrada y salida de la Cámara para medir la Potencia del pulso láser,


Lámpara de xenón

Lámpara de xenón de 150 w,Sistema de refrigeración por aguaEncendido de lanzamiento electromagnético bajoModo de Estabilización de la intensidad óptica, que proporciona la Potencia óptica constante del haz de luz,Diámetro predeterminado del haz: 8 mm,Combinado con ruedas de filtro para modificar el espectro de detección,


Generador de pulsos de lámparas de xenón

Duración del pulso: 2 μs ÷ 2 ms,

Corriente de pulso: 8,5 ÷ 595 A.


Fuente láser

Tipo de láser: nd: YAG con una base de referencia de 1064 nm,

Hasta cuatro módulos de generación de armónicos: 213 nm, 266 nm, 355 nm, 532 nm,

Diámetro del haz: 5 mm,

Duración del pulso: 5 ns,

Potencia del haz: 532 nm: 200 mj, 350 nm: 100 mJ (10 hz),

Cualquier otro tipo de láser o oppo se puede utilizar en la entrada de la Sala de muestras.


Rueda filtrante

Hasta 6 filtros,

Se proporcionan dos filtros de borde (paso largo) por defecto: 400 nm y 600 nm,

El filtro de masa de aire opcional se instala en la rueda del filtro y se acopla a la lámpara de xenón.


Tubo Fotomultiplicador

Rango de tensión de ánodo a cátodo: 500 ÷ 1200 v,

Rango espectral: 160 ÷ 900 nm,


Medidor de potencial constante

Estándar o simulación,

Estación de trabajo electroquímica estándar (para establecer potenciales de sesgo y mediciones de corriente lenta):

– ancho de banda: 500 hz,

– muestreo: 1 khz,

– resolución actual: 1 Pa a 100 na (dependiendo del rango),

Estación de trabajo electroquímica simulada (para la medición rápida de fotoelectricidad y la fijación de potenciales de sesgo):

– ancho de banda: 500 mhz,

– compensación de corriente sesgada,

– rango de medición: 10 MA / v; 1 mA/V; 100 μA/V; 10 μA/V; 1 μA/V; 100 μA/V,

Rango de potencial de sesgo: - 5 V ÷ 5 v,

Configuración de doble o triple electrodo,


Cronómetro

Análisis de tiempo: 50 us,

Frecuencia de activación: se puede ajustar a través del software para coincidir con la velocidad del pulso láser,

Cronometraje y sincronización del experimento de control: pulso láser, osciloscopio, obturador de entrada y salida, potenciómetro,

Hecho a través de software,

Dos canales de entrada para medir la Potencia del pulso láser,


Osciloscopio

Ancho de banda: 300 mhz,

Tasa de muestreo: 5gsample / s,


Dispositivo experimental

Configuración estándar

Absorción instantánea

Absorción instantánea cuasilinear Co

Fluorescencia inducida por láser

Electroquímica

La reflectividad difusa de las muestras de polvo,

Reflectividad de muestras sólidas de diffuse Reflectance en contacto con electrolitos