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Análisis de materiales asistidos por el espectro de energía estándar de la microscopía electrónica de escaneo de emisiones del campo de vuelo de Semer

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Descripción general
El análisis de materiales asistidos por el espectro de energía estándar de la microscopía electrónica de escaneo de emisiones del campo de vuelo de semer, Thermo Scientific Apreo ChemiSEM La microscopía electrónica de emisión de campo es la mejor opción para imágenes de alto rendimiento y alta calidad. Integra un flujo de trabajo automático que integra la composición de los elementos y el análisis estructural, permitiendo a los usuarios de diferentes experiencias obtener fácilmente datos de alta calidad. Apreo chemisem ofrece a grandes instituciones de investigación y clientes industriales una tecnología de análisis integrada y resultados completos para diversas muestras y usuarios de diferentes niveles de experiencia.
Detalles del producto

Thermo Scientific ™ Apreo ChemiSEM ™ El espejo emisor de campo es la mejor opción para imágenes de alto rendimiento y alta calidad. Integra un flujo de trabajo automático que integra la composición de los elementos y el análisis estructural, permitiendo a los usuarios de diferentes experiencias obtener fácilmente datos de alta calidad.

Apreo chemisem ofrece a grandes instituciones de investigación y clientes industriales unEn su conjuntoTecnología de análisis integrada y resultados completos del análisis. Para laboratorios multifuncionales con múltiples usuarios y múltiples tipos de muestras, las nuevas funciones de integración de fotogramas inteligentes (sfi), enfoque automático y astigmatismo automático del sistema optimizan automáticamente los parámetros de adquisición de imágenes y la adquisición de datos sin necesidad de ajustes manuales. El sistema siempre se mantiene en buenas condiciones y permite realizar imágenes en cualquier momento, dando a los usuarios más tiempo para centrarse en obtener los datos necesarios.

赛默飞场发射扫描电镜标配能谱助力材料分析

La inclusión compuesta en el acero fue analizada por fase química. Chemiphase puede identificar eficazmente todo tipo de inclusiones, obtener la composición y la fracción de área de todo tipo de inclusiones, y también puede detectar fácilmente fases inesperadas, y extraer información completa a través de un análisis.

Características principales

Rendimiento de imagen de alta resolución:Thermo Scientific ™ Trinity ™ El sistema de detección y detección y la tecnología de automatización pueden simplificar la adquisición de datos en varias aplicaciones.

* soluciones de análisis optimizadas: detector de sonda truesightpro eds, tecnología chemisem y detector de sonda truepix ebsd permiten una caracterización completa y completa de la muestra

Flujo de trabajo integral: compatible con el software maps, guiones personalizados y cleanconnect ™, La compatibilidad permite a los usuarios controlar completamente el proceso de análisis.

El sistema apreo chemisem integra tres funciones * que ayudan a simplificar las operaciones y garantizar la fiabilidad de los resultados: Thermo Science ™ ChemiSEM ™ Tecnología, nuevo difractómetro de electrones de retrodispersión truepix (ebsd) y Thermo Science único ™ Trinity ™ Sistema de detección en el tubo.

赛默飞场发射扫描电镜标配能谱助力材料分析

La tecnología chemisem utiliza un algoritmo cuantitativo totalmente automático en tiempo real para presentar características que no se pueden notar solo a través de la imagen, proporcionando información más completa para la muestra. Esta función funciona en cualquier momento y es fácil de usar, puede proporcionar resultados más rápido y ayudar a eliminar las desviaciones de los usuarios.

El detector trupix ebsd se utiliza con el sistema apreo chemisem para ampliar el alcance de la Aplicación. El nuevo software ebsd se puede utilizar para controlar el detector y guiar al usuario a completar la configuración de parámetros, la adquisición de datos y el procesamiento de datos.

El sistema de detección interna de la lente Trinity puede realizar la adquisición simultánea de información de morfología, superficie polar y composición de alta calidad sin el uso de detectores ETD o bsd.

Tiene una opción única de filtrado de señal, y puede obtener una alta resolución Zui de 0,9 nm sin desaceleración de haz de electrones a 1 kv.

El sistema apreo chemisem combina imágenes de alta resolución, análisis de elementos y análisis estructural para proporcionar a los usuarios una poderosa herramienta para analizar varios tipos de materiales.

óptica electrónica

• El tubo Sem de emisión de campo de alta resolución tiene las siguientes características:

– Pistola de lanzamiento de campo Schottky de alta estabilidad, que proporciona un haz de análisis estable de alta resolución

– lente de última etapa compuesta, lente estática combinada, lente magnética sin fugas y lente magnética sumergida (opcional)

– geometría del objetivo de 60 ° que permite inclinar las muestras más grandes

– la apertura autocalentada garantiza la limpieza y la apertura sin contacto

• Tecnología smartaling: no se necesita alineación de usuarios

• Reducir el efecto de dispersión de la falda mediante bombeo diferencial de vacío de lente en modo de bajo vacío (opcional), logrando análisis precisos e imágenes de alta resolución de Zui

• Función de desaceleración del haz de electrones, rango de sesgo de la Mesa de muestra de - 4000 V a + 600 V

• cambios continuos en el haz, optimización de la cutícula del tamaño del agujero

• desviación de escaneo de la Mesa de doble muestra

- fácil instalación y mantenimiento de la pistola electrónica: horneado automático, arranque automático, sin necesidad de alineación mecánica

• modo pivotbeam para imágenes de contraste de canales electrónicos de circunscripción, también conocido como modo "haz de electrones oscilante" (limitado al tipo s de apreo chemisem)

- vida útil del filamento corto zui: 36 meses

Tecnología chemisem

• TrueSight; Tamaño del detector: 25 o 70 mm cuadrados

- Resolución energética de hasta 125 EV @ mnnenenebf alfa

• El rango de detección de elementos es be - Am

• La sensibilidad de los elementos ligeros puede detectar silicio (si L alfa)

La función Sem - EDS está integrada en una sola interfaz de usuario

- almacenamiento de datos basado en proyectos

• árbol de datos del proyecto para facilitar la gestión fácil de los datos

- formato de datos estándar de la industria

- modo de análisis dedicado para lograr una fusión perfecta entre los modos de escaneo de puntos, líneas y superficies

• seleccione los tipos de imágenes electrónicas disponibles en la interfaz de usuario XT Sem

- generación de informes con un solo clic

• Eliminación de picos y picos de escape

Reconocimiento automático de picos espectrales

• El Pico de Hecheng se superpone al Fondo de la espalda

- cuantificación precisa en una amplia gama de distancias de trabajo, haces y rangos de energía de haz de electrones

• El usuario puede definir la opción de incluir, excluir o omitir cuantitativamente un elemento

• Selección automática o personalizada por el usuario de líneas KLM para análisis cuantitativos

- Eliminación del Fondo dorsal mediante filtrado digital

• Análisis cuantitativo sin muestras mediante el ajuste del método de filtrado de dos multiplicaciones pequeñas de Zui

• Utilizar el método de corrección de la matriz proza para lograr una excelente cuantificación de elementos ligeros

- escaneo de líneas cualitativas y cuantitativas que pueden ser largas a tiempo o detener las pruebas con conteo

• Tecnología chemisem, combinada con algoritmos de imagen electrónica para lograr una cuantificación facial rápida

• El escaneo facial cuantitativo siempre está abierto, proporcionando el escaneo facial cuantitativo de la desprendimiento del pico espectral.

• Escaneo de la superficie de conteo, soporte para la selección de líneas primarias de la unidad

· Escaneo facial cuantitativo a través del núcleo cuadrado (opcional)

• superponer imágenes escaneadas de múltiples facetas a imágenes electrónicas

• El usuario personaliza o selecciona automáticamente el color del elemento

• Adquisición y empalme de múltiples campos de visión a través de un montaje de navegación

• compatible con el software Maps para el empalme automático de múltiples campos de visión

• extracción de mapas espectrales con puntos y casillas rectangulares

• extraer datos de escaneo de línea de una imagen de escaneo facial de rayos X seleccionando con flexibilidad la dirección, el ancho y los puntos de la línea

- comparación normalizada de mapas multiespectrales

- corrección de deriva del escaneo facial basado en dcfi

- Análisis de compuestos de boruros, carburos, óxidos y Nitruros mediante Estequiometría

• chemiphase realiza una identificación de fase en tiempo real o fuera de línea mediante análisis estadístico múltiple

• chemiview realiza reprocesamiento fuera de línea y generación de informes para diferentes tipos de datos

Detector trupix ebsd

• detector electrónico directo ebsd pixelado híbrido

- detector único, compuesto por un solo módulo basado en el tiempo

- ruido de lectura cero, alta relación señal - Fondo

- cero distorsiones

- recuento de partículas únicas

- umbral energético

• Tasa de lectura de fotogramas FPS 2000

• Completar la inserción del detector, la calibración, la optimización del patrón y la configuración automática del escaneo facial en un minuto

Software de adquisición y procesamiento de datos ebsd

- Integración integral de sistemas de adquisición y procesamiento de datos en línea y fuera de línea

• Optimización automática del patrón: el sistema recoge más de 20 ebsp desde puntos aleatorios en el área a recoger para lograr una calibración de fondo trasero de alta calidad.

• Determinación de la gran exposición de zui: el sistema determina la gran exposición de Zui antes de la saturación de la señal, y cuando el tiempo de exposición supera la gran exposición de zui, se realiza la integración automática del marco.

- corrección automática de campo plano y mejora del contraste (se proporcionan procedimientos de calibración adicionales)

• calibración automática del Centro de la muestra de flores para diferentes posiciones del detector, distancias de trabajo y ángulos de inclinación de la muestra

- se puede superponer cualquier tipo de imagen

• histograma del tamaño del grano

- Eliminación de ruido y mejora de píxeles

• Informes de plantilla personalizados por el usuario

- delimitación de todos los siete tipos de sistemas cristalinos y 11 grupos de Laue

- calibración simultánea multifase

• transformada rápida de FFT e indicadores de calidad de contraste de patrones

• Corrección del Centro del patrón de amplificación Sem baja

• simulación cinemática de ajuste de calidad y superposición de ebsp

• Mapa de euler, mapa antipolar X / y / Z (laminación, normal, transversal), mapa de orientación de euler, mapa de fase y escaneo de diferencia de orientación

Sistema de vacío

- sistemas de vacío sin aceite

• bomba molecular de turbina 1 × 240 L / s

• bomba de desplazamiento 1 × PVP

· 2 × IGP

• vacío del almacén de muestras (alto vacío) < 6,3 × 10 - 6 mbar (después de 12 horas de funcionamiento de la bomba)

- tiempo de vacío: ≤ 3,5 minutos

• modo de bajo vacío (presión de la Cámara 10 - 500 pa) (opcional)

• dispositivo de carga automática de apertura de presión limitada (pla)

Mesa de muestras

• asiento de muestra multifuncional estándar, que se puede instalar directamente en la Mesa de muestra, con capacidad para hasta 18 soportes de muestra estándar (12 mm de diámetro), tres soportes de muestra preinclinados, soportes de muestra transversales y dos cintas stem preinclinadas (opcional) (38 ° y 90 °); No se necesitan herramientas para instalar muestras

• cada barra stem opcional puede acomodar seis redes stem

• obleas y mesas de muestras personalizadas (opcional)

赛默飞场发射扫描电镜标配能谱助力材料分析

赛默飞场发射扫描电镜标配能谱助力材料分析

Apreo chemisem admite una variedad de aplicaciones industriales, incluidas aplicaciones para caracterizar materiales grandes y pesados. No es necesario cortar la muestra o reducir el tamaño de la muestra, lo que simplifica el proceso de preparación.

Control del sistema

- Gui de 64 dígitos con sistema Windows 10, teclado, ratón óptico

• pantalla LCD de 24 pulgadas, wuxga 1920 × 1200 (segunda pantalla opcional)

- interfaz de usuario personalizable

- enfoque automático, eliminación automática de astigmatismo y función de alineación automática de lentes

• puntos de marco inteligentes (configuración automática de los parámetros de adquisición)

- Registro de imágenes

• montaje de navegación

• Función de retiro y recuperación

• joystick (opcional)

• Interfaz de usuario manual de la perilla (opcional)

Procesador de imágenes

• El rango de tiempo de residencia es de 25 NS - 25 MS / pixel

Hasta 6.144 × 4.096 píxeles

- tipo de archivo: TIFF (8, 16, 24), JPEG o BMP

• visualización de imágenes de un solo marco o 4 vistas

• modo smartspan (escaneo inteligente) (256 cuadros de media o puntos, puntos de línea y media, escaneo entrelazado)

• modo dcfi (puntos de marco compensados por deriva)

• Mejora de imagen digital y filtro de reducción de ruido

Requisitos de instalación

(para datos detallados, consulte la Guía de preinstalación)

- fuente de alimentación:

– tensión 100 - 240 V AC (- 6%, + 10%)

– frecuencia 50 / 60 Hz (+ 1%)

– consumo de energía: > 3,0 kVA (sistema básico de microscopía electrónica)

- resistencia a tierra inferior a 0,1 0

- Medio ambiente:

– temperatura de 20 ° c (+ 3 ° c)

– humedad relativa inferior al 80%

– campo magnético AC disperso: a tiempo de línea 20 Ms (fuente de alimentación de 50 hz) o 17 Ms (fuente de alimentación de 60 hz), "40 NT (asíncrono) o < 100 NT (sincronizado)

- tamaño de la puerta pequeña zui: 0,9 m de ancho x 1,9 m de alto

- peso: 980 kg (consola del sistema)

• Se recomienda el uso de nitrógeno seco para la extracción al vacío

- aire comprimido, 4 - 6 bar, limpio, seco y sin aceite

- dispositivo de refrigeración del sistema

- ruido: se requiere una investigación in situ

• vibraciones del suelo: se requiere una investigación in situ

• dispositivo de amortiguación activo opcional

Parámetros del producto

Resolución del haz de electrones


赛默飞场发射扫描电镜标配能谱助力材料分析

Bd: modo de desaceleración del haz de electrones, wd: distancia de trabajo (a menos que se indique lo contrario, la resolución se proporciona a una distancia de trabajo de alta calidad). Por defecto, las condiciones de prueba de aceptación del sistema después de la instalación final de Zui son: 1 Kv y 30 KV de alto vacío, abriendo el modo de inmersión (si es aplicable).

Rango de parámetros del haz de electrones

Rango de parámetros del haz de electrones: 1 Pa a 50 na (opcional con 400 na)

- rango de tensión de aceleración: 200 V - 30 KV

- rango energético de aterrizaje: 20 Ev - 30 keV

• ancho del campo de visión horizontal grande de zui: 3 mm a 10 mm WD (pequeña ampliación de zui: 29x)

Almacén de muestras

- ancho interior: 340 mm

- distancia de trabajo de análisis: 10 mm

- puerto: 12

赛默飞场发射扫描电镜标配能谱助力材料分析

Las partículas de óxido de magnesio se caracterizaron por baja kV (500 v) a través de la desaceleración del haz de electrones (bd). BD puede mejorar los detalles morfológicos y reducir el efecto de carga.

Detector

Apreo chemisem puede combinar arbitrariamente las zonas (opcionales) de diferentes detectores o detectores y puede detectar hasta cuatro señales al mismo tiempo:

- sistema de detección Trinity (dentro del objetivo y dentro del tubo)

– detector de bajo nivel dentro de la lente dividida T1

– detector de mediana dentro de la lente T2

– detector de alto nivel en el tubo T3 (opcional)

· Td: detector de electrones secundarios Everhart - thornley

• dbs: detector electrónico de dispersión de espalda bajo botas polares de División telescópica (opcional)

• detector electrónico secundario de bajo vacío (opcional)

• DBS - gad: detector electrónico de retrodispersión de análisis de atmósfera instalado en la lente objetivo (opcional)

• detectores de zonas escalables stem 3 + (bf, df, hadf, haadf) (opcional)

· Cámara infrarroja

· hermo Scientifc ™ Nav-Cam ™ Cámara de navegación (en el almacén de muestras)