Estructura cercana de absorción de rayos X de Radiación Sincrotrón

Espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (xafs)Estructura cercana de absorción de rayos X de Radiación SincrotrónLa medición espectral de la estructura fina de absorción de rayos X (xafs) utilizando fuentes de luz de rayos X convencionales tiene un buen papel complementario y de expansión en las principales infraestructuras científicas y tecnológicas, como la radiación sincrotrón, así como en instrumentos científicos como microscopios electrónicos y difractómetros de rayos X. ¡¡ este producto ha sido comprado por la Universidad de pekín, la Universidad de Aeronáutica y Astronáutica de beijing, la Universidad de tianjin, la Universidad de energía eléctrica del Norte de china, la Universidad de qinghai, la Universidad de Anhui y muchas otras universidades, ayudando efectivamente a la investigación científica relevante y el desarrollo de aplicaciones!

Sistemas de escritorio miniaturizados, fáciles de usar:

· soporte para la función de barrido rápido cercano;

· soporte para funciones extendidas como pruebas in situ;

· diseño altamente ergonómico, operación más conveniente;

· preestablecimiento de parámetros experimentales incorporados para lograr una medición rápida;

· diferentes muestras y diferentes modos de medición cambian automáticamente con un solo clic;

· transmisión remota de datos, visualización en tiempo real de procesos y resultados experimentales para apoyar pruebas no tripuladas;

· soporte técnico de aplicación profesional y soporte de análisis de datos;

· El instrumento tiene la calificación de exención de radiación y múltiples entrelazados de protección de Seguridad para garantizar la seguridad personal y de uso.

Cristal Curvo especial xafs:

· las diferentes superficies de cristal están bien configuradas para lograr la cobertura de varios elementos;

· instalación precontaminada, Plug and play;

· los cristales de flexión especiales se pueden personalizar de acuerdo con los elementos necesarios para lograr el mejor rendimiento.

Espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (xafs)Estructura cercana de absorción de rayos X de Radiación SincrotrónMecanismo de escaneo de energía:

· mecanismo de escaneo vinculado;

· lograr una vinculación precisa entre la fuente de luz, el cristal curvo, la muestra y el detector;

· alta precisión y resolución, buena estabilidad.