Sistema de prueba de armónicos secundarios

El sistema de prueba de armónicos secundarios de exipolar SHG $r $n • utiliza un camino óptico confocal sesgado para lograr una alineación precisa y altamente repetitiva de $r $n • imágenes integradas, espectros y detección de polarización, soporta la adquisición simultánea y el análisis conjunto de $r $n • utiliza tecnología de supresión de frecuencia fundamental para mejorar significativamente la relación señal - ruido y reducir la interferencia de fondo

Sistema de Microscopía y caracterización de armónicos secundarios de excipolar SHG

Está diseñado para aplicaciones como óptica no lineal, materiales bidimensionales, dispositivos ferroeléctricos / piezoeléctricos, cristales semiconductores e imágenes de colágeno biológico.

Exipolar SHG combina la excitación de femtosegundos / picosegundos con el enlace de imagen confocal de preservación de polarización, combinando la separación de color / filtro y la detección de alta sensibilidad, para lograr la imagen y la caracterización cuantitativa de la polarización no lineal de segundo orden de la muestra Chi (2). El sistema integra el control automatizado de polarización y la calibración de potencia / respuesta para reducir el error del instrumento al tiempo que mejora la eficiencia de la recolección y suprime el Fondo de frecuencia base; Se puede completar con un solo clic la determinación de la simetría cristalina y el eje principal, el mapeo de dominio / heterogeneidad, el reconocimiento del número de capas y el análisis de estrés y orientación, y se puede combinar con Raman / PL para integrar la imagen, el espectro y la medición de polarización en un proceso de ventanilla única.

Esquema del esquema SHG

Sistema de prueba de armónicos secundariosCaracterísticas principales

• Camino óptico confocal de preservación de polarización: estimular - recoger todo el enlace para mantener el Estado de polarización y adaptarse a la medición SHG dependiente de la polarización.

• Vinculación de imagen × espectro: la microscopía SHG y el espectro en el mismo campo de visión cambian con un solo clic; El área de selección de marcos puede recoger automáticamente el espectro y las estadísticas.

• Análisis automatizado de polarización: desviación / detección eléctrica y escaneo de waveplate, generación de Rose Map de polarización y curva P - shg, soporte para el ajuste de tensión Chi (2) con grupos de puntos.

• doble calibración de intensidad / respuesta: la unificación de la Potencia es paralela a la corrección de la respuesta del instrumento, lo que reduce el error del sistema y garantiza la comparabilidad entre diferentes lotes / muestras.

Medición multigeométrica: reflexión, transmisión y conmutación libre de la superficie - shg, soporte de resolución angular y escaneo Z para obtener coincidencia de fase e información de interfaz.

• coastalación: coastalación con Raman / pl, el camino óptico no necesita ser reajustado, los mapas se verifican mutuamente y se forma un proceso de caracterización de ventanilla única.

• Separación de color y filtro de alta eficiencia: supresión fuerte de la frecuencia básica, prioridad a través de armónicos secundarios, mejorando significativamente la relación señal - ruido y la visibilidad de la señal débil.

• previsualización y alineación amigable: previsualización en tiempo real del canal de la cámara, alineación de micro - áreas y empalme de gran visión; Compatible con la Plataforma de transferencia / caracterización de materiales bidimensionales.

• software de proceso: medición con un solo clic, procesamiento por lotes y exportación de informes, interfaz de guión incorporada para facilitar la automatización y el desarrollo secundario.

• Seguridad y expansión: el entrelazamiento de potencia y el flujo de trabajo de dosis bajas garantizan la seguridad de las muestras; Se pueden enchufar y jugar módulos como thg / efish, control de temperatura, carga de campo eléctrico / tensión.

Sistema de prueba de armónicos secundariosÁreas de aplicación:

• materiales bidimensionales: determinación del número de capas y la simetría, medición del eje cristalino y el ángulo de torsión, estructura de dominio y mapeo de orientación de esfuerzo

• dispositivos ferroeléctricos / piezoeléctricos: imagen de la estructura de dominio y el límite inverso; Cambios en el SHG in situ bajo un campo eléctrico externo

• semiconductores / dispositivos fotónicos: orientación cristalina y evaluación de la calidad de la interfaz como ln / Gan / ALN

• Superficie e interfaz: monitoreo dinámico in situ de S - SHG para procesos de adsorción / funcionalización / oxidación

- biología y sustancias blandas: imágenes estructurales y análisis de la heterogeneidad sin necesidad de teñir, como el Colágeno

Mapa de intensidad de SHG de cdse estimulado a 1550 nm