SRM 1976c alúmina estándar de difracción de polvo de rayos X

SRM 1976c alúmina estándar de difracción de polvo de rayos X Introducción:

Número de nist: SRM 1976c

Nombre en inglés: Instrument Response Standard for X - Ray powder diffaction

Nombre chino: estándar de difracción de polvo de rayos X de alúmina

Especificaciones: 1 disco

Período de validez:

La certificación del SRM 1976c es válida indefinidamente dentro del rango de incertidumbre de medición prescrito, siempre que el SRM sea procesado y almacenado de acuerdo con las instrucciones en este certificado (ver "instrucciones de almacenamiento y uso"). No es necesario volver a certificar este SRM regularmente. La certificación no es válida si el SRM está dañado, contaminado o modificado de otra manera.

Descripción del material:

El proceso de fabricación utilizado para producir este SRM se desarrolló para producir sustratos de componentes electrónicos. Los polvos de alúmina utilizados como precursores de estos sustratos tienen una alta pureza de fase (estructura de corindón) y tienen forma de partículas en forma de escamas. Las plaquetas suelen tener un diámetro de 5 a 10 micras y un espesor de 2 a 3 micras. El proceso de compactación del disco produce una textura axisimétrica, cuya base tiende a ser paralela a la superficie del Disco. Esta característica axisimétrica de la textura permite la instalación de muestras en cualquier dirección alrededor de los normales de la superficie. Se utiliza una pequeña cantidad de vidrio de calcita para la sinterización líquida en comparación con el bloque de presión. No se detectaron impurezas cristalinas. Las fases de vidrio involucradas en la sinterización líquida evitan efectivamente el contacto entre partículas y se relajan durante el enfriamiento de la pieza de trabajo desde la temperatura de sinterización. Esto conduce al desarrollo mínimo de la microstrusión y el ensanchamiento de sus líneas espectrales relacionadas; Aunque se pueden detectar algunas microescalas, como el ensanchamiento de Gauss con dependencia tan theta. Teniendo esto en cuenta, y básicamente sin ensanchamiento del tamaño del grano, el SRM 1976c se puede utilizar para obtener una aproximación de la función de contorno del instrumento (ipf). Sin embargo, no se recomienda el uso de SRM 1976c para el análisis cuantitativo de la microestructura. El disco que constituye la materia prima del SRM se fabrica en una operación de producción especializada para garantizar la consistencia de la microestructura en términos de tamaño, forma, microescala y textura.

Uso del producto:

La sustancia de referencia de esta norma (srm) está compuesta por un disco de alúmina sinterizada para calibrar la posición y resistencia de la línea del equipo de difracción de polvo de rayos X como función del ángulo 2theta. El SRM en forma sólida elimina cualquier cambio en la medición de la intensidad introducido por el proceso de carga de la muestra. Una unidad del SRM 1976c está compuesta por un disco de alúmina sinterizada de aproximadamente 25,6 mm de diámetro y 2,2 mm de espesor.

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La lista de algunas sustancias de referencia es la siguiente: