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sales@cossim.com
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185-0134-1718
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Dirección
Fundador zhigu, 177 Suhong East road, parque industrial de Suzhou
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¿¿ qué?Suzhou Jingtong Instrument co., Ltd.
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Fundador zhigu, 177 Suhong East road, parque industrial de Suzhou
Debido a que el producto ha realizado varias actualizaciones funcionales e iteraciones de actualización, no garantizamos que las imágenes y varios parámetros proporcionados por el microscopio de fuerza atómica de la versión de polímero del instrumento Oxford cypher es estén actualizados, le recomendamos que haga clic aquí para contactar a nuestro Ingeniero en línea para atenderle, y al mismo tiempo le damos la bienvenida a una consulta telefónica:¡!

En el campo de la investigación y el desarrollo de polímeros, cypher es tiene propiedades incomparables y una amplia gama de usos. Una de nuestras configuraciones más populares está ahora disponible, y la versión de polímero de cypher es ahora disfruta de precios preferenciales y se puede entregar rápidamente.
⁃ generalmente tiene una resolución más alta que otros microscopios de fuerza atómica ordinarios
- escaneo rápido, solo unos segundos para obtener los resultados
- simplificar el funcionamiento de todos los modos de imagen de toque
- hacer que el proceso de imagen sea más estable, incluso si se produce un cambio de temperatura
- hacer que el modo de imagen nanomecánica sea más cuantitativo
- se puede calentar la muestra a 250 ° C en un ambiente gaseoso controlado
- fácil de operar sin necesidad de controladores, cables o tuberías adicionales
- capturar la curva de fuerza de alta velocidad para mapear el módulo de almacenamiento
- capturar todas las curvas, incluidas las desviaciones y los sensores Z
- soporte para numerosos modelos de indentación, entre ellos hertz, dmt, Sneddon y jkr
- modo de mapeo nanomecánico más rápido (> 20 Hz velocidad de escaneo de línea)
- medición cuantitativa del módulo de almacenamiento y del ángulo de corte de pérdidas
- amplia gama de módulos de operación (~ 50 kPa - 300 gpa)
- medición cuantitativa del módulo de almacenamiento y del ángulo de corte de pérdidas
- para materiales de alto módulo (1 GPA - 300 gpa)
Optimizar automáticamente los parámetros de imagen antes de que comience el escaneo
- la primera línea de escaneo permite obtener excelentes datos sin dañar la muestra o la sonda