Sistema de medición de contraste de fase de la muestra de medición de longitud del medidor OSI Prince

Sistema de medición de contraste de fase de la muestra de medición de longitud del medidor OSI Prince

Sistema de medición de contraste de fase de la muestra de medición de longitud del medidor OSI Prince

Sistema de medición de contraste de fase de muestras largas de la serie Kobra - wx

• Distinción de modelo (wx * * *): porancho de telaModelo estándar de división:Wx50 (50 mm de ancho), wx100 (100 mm de ancho), wx150 (150 mm de ancho); otroWx - ir Infrared Edition(adaptado a película óptica infrarroja de 850 a 1100 nm)

■ características
Método de medición:
Método de rotación nicol paralelo

Longitud de onda de medición:
450、550、590、650nm

Por etapas de la muestraTamaño de la muestra

Área de medición
33 mm2 (cuadrado de 5,8 mm: área de células fotosensibles)

Nombre del software:
KOBRA-DSP/X

Proyecto de medición:
Diferencia de fase y contorno del ángulo de orientación

Oji keisoku (medición del Príncipe osi) Kobra - wx * * * Introducción del producto del sistema de medición de diferencia de fase de muestras largas

I. principios de posicionamiento y medición del núcleo

1. posicionamiento del producto

• Uso básico:Película óptica de longitud / gran tamaño (ancho 50 / 100 / 150 mm, longitud ≤ 1000 mm)deDiferencia de fase, ángulo de orientación (optic axis), uniformidad de dirección de ancho (perfil), dispersión de longitud de ondaMedición sin contacto y totalmente automática

• Escenario de comparación: investigación y desarrollo de película óptica, monitoreo de uniformidad del proceso, inspección de calidad de tamaño completo de llegada / envío, placa de polarización / película de compensación / COP / PI evaluación de muestras largas de película

• Distinción de modelo (wx * * *): porancho de telaModelo estándar de división:Wx50 (50 mm de ancho), wx100 (100 mm de ancho), wx150 (150 mm de ancho); otroWx - ir Infrared Edition(adaptado a película óptica infrarroja de 850 a 1100 nm)

2. principio de medición central

• Método de rotación paralela de nicol: la tecnología de medición de prince, en comparación con el método tradicional de detector de rotación,La diferencia de fase ultra baja tiene una alta sensibilidad, una fuerte estabilidad del camino óptico, un amplio rango de medición sin necesidad de cambiar de marcha y una mejor repetibilidad.Adaptación de películas ultrafinas a nivel de nm a películas de compensación de espesor a nivel de Mu m

• Fuente de luz:LED de estado sólido de longitud de onda múltiple(estándar 450 / 550 / 590 / 650 nm, extensión opcional a 6 bandas), vida útil > 20000 horas, sin mantenimiento, sin precalentamiento, longitud de onda estable

II. parámetros técnicos clave (con wx100 como referencia, comunes a la misma serie)

1. alcance y precisión de la medición

• Diferencia de fase (recuperación):0 ~ 20,000 nm(medición única de rango completo, sin cambio de marcha)

• ángulo de orientación (optic axis):0 a 90 grados

• Resolución de diferencia de fase:0.001 nm; repetibilidad:≤0.03 nm (150nm 标样， 590nm, 3σ)

• Resolución angular:0001 °; repetibilidad:≤ 0,05 °

• Medir el punto de luz:33 mm cuadrados (5,8 mm cuadrados)Garantizar la medición media en grandes áreas y evitar la interferencia de defectos locales

2. especificaciones de la muestra (adaptación de la muestra larga del núcleo)

• Ancho estándar:WX50 (50 mm), WX100 (100 mm), WX150 (150 mm)

• Longitud de la muestra:≤1000 mm(admite escaneo continuo de toda la sección)

• Espesor de la muestra:≤3 mm

• Morfología de la muestra:Película larga, placa polarizada, tira corta, muestra de corte de bobinasSoporte de inyección automática / posicionamiento manual, dirección de ancho multipunto / Escaneo completo

3. sistemas y software

• Software de control especial:KOBRA-DSP/X

• Elementos de medición: diferencia de fase, ángulo de orientación, perfil de dirección de ancho, distribución de dirección de longitud, dispersión de longitud de onda, estadísticas de uniformidad (cpk, desviación estándar)

• Salida de datos: informes csv, microsoft, pdf, soporte para visualización de distribución 2d / 3d, análisis de tendencias

• Tamaño del fuselaje (w × d × h):1550 × 800 × 600 mm; peso: unos 150 kg; espacio de instalación: w2500 × d900 mm

III. ventajas de los productos básicos

1. Inyección automática especial de muestras largas, medición continua de todo el ancho

• Dedicado aDe 50 a 150 mm de ancho, 1 m de largo como máximoDiseño de muestra de tiras largas, escaneo automático a lo largo de la dirección longitud / ancho, completando todo el perfil a la vez, sin necesidad de corte repetido, alineación manual,Mejorar considerablemente la eficiencia de detección de muestras largas (una sola muestra ≤ 1 min)

• Escaneo multipunto / completo en dirección de ancho, evaluación precisaUniformidad transversal(indicadores clave de defectos de dibujo / recubrimiento en el proceso)

2. Amplio rango + precisión nanométrica, compatible en toda la categoría

• Cobertura de diferencia de fase ultra ancha de 0 a 20000 nm: dePelícula COP ultradelgada OLED (unos nm)APelícula de compensación de gran tamaño LCD (varios micras)Se puede medir a la vez, sin necesidad de cambiar el módulo.

• Garantía de la Ley paralela nicolDiferencia de fase ultra baja y alta sensibilidadResolver los puntos dolorosos de la medición inexacta y la mala repetibilidad de la superpelícula en equipos tradicionales

3. Estable y confiable, el nivel de producción es duradero

• Fuente de Luz LED de Estado sólido, sin consumibles, sin mantenimiento, muy pequeña deriva de longitud de onda a largo plazo

• La rigidez de la estructura mecánica es fuerte, adecuada para la doble escena de muestreo de laboratorio + línea de producción, y la estabilidad de funcionamiento a largo plazo es EXCELENTE.

• La interfaz del software es simple, la medición con un solo clic y la generación automática de informes de inspección de calidad reduce el umbral del operador.

4. Función escalable

• OpcionalMódulo de medición de la Dependencia del ángulo de incidencia(simulación de manifestaciones ópticas de diferentes ángulos de visión)

• OpcionalVersión infrarroja (wx - ir): adaptación a película óptica infrarroja de 850 a 1100 nm, medición de película infrarroja táctil / de visualización

• Soporte para personalizar muestras más largas, ancho de banda más amplio y expansión de longitud de onda múltiple

IV. Áreas de aplicación típicas

• Material óptico de visualización:Placa polarizada, película de diferencia de fase, placa polarizada redonda oled, película de compensación lcd, película de tracción COP / PI

• Materiales poliméricos: película óptica larga, película de contracción térmica, placa polimérica orientada

• I + D / inspección de calidad: evaluación de la uniformidad de muestras largas, monitoreo de estabilidad del proceso, inspección a tamaño completo de los materiales entrantes, control de calidad del envío, análisis de fallos

V. vista rápida de la misma serie de modelos

VI. diferencias básicas con Kobra - wfd0

• WX*:Muestra larga fija (≤ 1 m), ancho de 50 a 150 mm, muestra automática fuera de línea, centrándose en todo el perfil de segmentoAdecuado para cortar muestras largas y pruebas de tamaño completo de placas polarizadas

• WFD0:Alimentación continua de rollos a rollos, longitud ilimitada, ancho de 50 mm, centrándose en la detección continua de producción en masa de rollos

VII. canales de adquisición

La mayoría de los clientes y socios de la industria son bienvenidos a preguntar y negociar la cooperación:

Yuqi Science Instrument (shenzhen) co., Ltd.

Responsable especial: 1 (lin)

Dirección: yuqi science, 7º piso, Grupo de comercio electrónico, 906 Longhua street, Longhua New area, shenzhen, Provincia de Guangdong

Oji keisoku OSI Prince Measurement agente chino yuqi Science instruments (shenzhen) co., Ltd.