Ns3800 Microscopio confocal láser 3D de alta velocidad

NegociableActualización en05/06

modelo

Naturaleza del fabricante: Productores

Categoría de producto

Lugar de origen

Consulta en línea

Descripción general

El Microscopio confocal láser 3D de alta velocidad ns3800 es un microscopio 3D de alta velocidad desarrollado especialmente por la compañía coreana nanoscopia Systems para el Instituto de materiales de baja dimensión. En comparación con el perfilador de sonda 3D tradicional, el ns3800 utiliza un láser de 405 nm como fuente de luz para la detección sin daños sin contacto directo con la superficie de la muestra, por lo que no daña la superficie de la muestra, y la precisión de medición es mucho mayor que la del perfilador de sonda.

Detalles del producto

Ns3800 Microscopio confocal láser 3D de alta velocidadEs un microscopio de escaneo láser confocal de alta velocidad (clsm) de medición tridimensional (3d) preciso y confiable. La imagen microscópica confocal en tiempo real se realiza a través del módulo de escaneo óptico rápido y el algoritmo de procesamiento de señales. Cuenta con soluciones para medir y detectar estructuras microscópicas tridimensionales como obleas semiconductoras, productos fpd, equipos microelectrónicos, sustratos de vidrio, superficies de materiales, etc.

Características & benefits (rendimiento y ventajas):

Compensación automática de inclinación para la medición óptica 3D sin daños de alta resolución

Un simple modo de análisis de datos para imágenes confocales en tiempo real

Una variedad de zoom óptico doble escaneo Z

Detección de características de sustratos translúcidos empalmados a gran escala

No hay preparación de muestras para imágenes de campo brillante y enfoque común de CLD en tiempo real

Enfoque automático

Campo de aplicación (campo de aplicación):

El NS - 3500 es una solución prometedora para medir materiales de baja dimensión.

Se pueden medir la altura, el ancho, el ángulo, el área y el volumen de las estructuras de micras y submicrones, por ejemplo

- semiconductores: gráficos ic, altura cóncava y convexa, altura de la bobina, detección de defectos, proceso cmp

- productos fpd: detección de pantalla táctil, patrón ito, altura de separación de columnas LCD

- dispositivos microelectrónicos: esquema tridimensional de la estructura, rugosidad de la superficie, gráficos microelectrónicos

- superficie de vidrio: células solares de película delgada, textura de las células solares, patrón láser

- Investigación de materiales: detección de la superficie del molde, rugosidad, análisis de grietas

Dimensión (tamaño):

Ns3800 Microscopio confocal láser 3D de alta velocidadEspecificación (especificaciones):

modelo	Microscopio NS-3800					Nota
Multiplicación del objetivo		10x	20 veces	50 veces	100x
Alcance de la Observación / medición	Nivel (h): Mu m	1400	700	280	140
	垂直 (V): μm	1050	525	210	105
Rango de trabajo: mm		16.5	3.1	0.54	0.3
Apertura numérica (n.a.)		0.30	0.46	0.80	0.95
Zoom óptico		x1 a x6
Ampliación total		178x to 26700x
Sistema óptico de Observación / medición		Sistema óptico de enfoque común pinhole
Medición de la altura	Rango de escaneo de medición	Escáner fino: 100 μm (y/o) Escáner largo: 7 mm [NS-3800L]				Nota 1
		Escáner fino: 400 μm (y/o) Escáner largo: 10 mm [NS-3800D]
		Escáner fino: 200 μm (y/o) Escáner largo: 10 mm [NS-3800T]
	Resolución de visualización	0,001 μm
	Tasa de repetición Sigma	0,010 μm				Nota 2
Medición del ancho	Resolución de visualización	0,001 μm
	Tasa de repetición 3 sigma	0,02 μm				Nota 3
Memoria de fotogramas	Píxeles	1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96
	Imagen monocromática	12 bits
	Imágenes en color	8 bits para RGB cada uno
	Medición de la altura	16 bits
Tasa de fotogramas	Escaneo de superficie	20 Hz a 160 Hz
	Escaneo de línea	~ 8 kHz
Función automática		Ganancia automática
Fuente de luz de medición confocal láser	Longitud de onda	de 405 nm
	salida	~ 2mW
	Nivel láser	Clase 3b
Elemento receptor láser		PMT (tubo fotomultiplicador)
Fuente de luz de observación óptica	luz	LED de 10W
Cámara de observación óptica	Elemento de imagen	Sensor de transferencia de imagen en color de 1 / 2 "
	Resolución de registro	640x480
	Ajuste automático	Ganancia, velocidad del obturador, balance blanco
Unidad de procesamiento de datos		PC
Fuente de alimentación	voltaje	100 to 240 VAC, 50/60 Hz
	corriente eléctrica	500 VA máx.
peso	microscopio	Aprox. ~50 kg (Unidad de cabezal de medición: ~12 kg)
	controlador	~ 8 kg
Sistema de aislamiento de vibraciones		Sistema de aislamiento de vibraciones flotantes de aire				Opción

Nota 1: el escaneo fino es realizado por un ejecutor piezoeléctrico (pzt).

Nota 2: se miden 100 veces las muestras estándar (paso de 1 micra) con una lente de 100 × / 0,95.

Nota 3: se miden 100 veces las muestras estándar (a una distancia de 5 micras) con una lente de 100 × / 0,95.

Producto similar Recomendar