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Piso 5, Helen International building, 778 Baoshan road, Hongkou district, Shanghai
Shanghai Juna Technology Co., Ltd
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K1 fluo ProMicroscopio confocal de fluorescencia láser de grado de investigación científica multifuncionalEs un microscopio de enfoque común de fluorescencia láser multifuncional desarrollado por la compañía coreana nanoscopia Systems para química, medicina, biología, materiales y otros campos. Los excelentes componentes ópticos, el rendimiento y la excelente relación calidad - precio han atraído a un gran número de usuarios en el país y en el extranjero. Diseño modular, concepto de diseño abierto permite que el módulo de control láser k1 - fluo sea compatible con los módulos de microscopía comercial de nikon, olympus, zeiss, Leica

Microscopio confocal de fluorescencia láser de grado de investigación científica multifuncionalRendimiento y ventajas:
1. calidad de imagen de alta definición
2. tamaño compacto del módulo
3. compatible con varios sujetos de microscopía comercial
4. operación simple
5. alta relación calidad - precio
6. módulos personalizables
Funciones principales:
1. modo en tiempo real
En modo live, se pueden obtener imágenes fluorescentes de alta definición moviendo la posición del objetivo y ajustando la sensibilidad del detector y observando los cambios en la imagen en tiempo real.
2. medición de imágenes bidimensionales
En modo live, haga clic en Manual SNAP para medir la imagen bidimensional en las condiciones actuales. si no está satisfecho con la imagen medida actual, puede seleccionar nuevamente la longitud de onda láser medida. después de ajustar las condiciones de medición, puede volver a medir, cubriendo los resultados de la medición anterior.
3. z - SNAP (construcción de imágenes de profundidad 2d)
Al establecer el rango de escaneo deseado, intervalo, número de sección se puede obtener una foto profunda de la imagen QR (seleccionar los puntos brillantes en cada foto y luego sintetizarla en una foto qr, muy adecuada cuando la muestra se inclina)
4. z - Stack (construcción 3d)
Después de configurar el rango de escaneo deseado, intervalo, sección, el sistema utiliza fotos bidimensionales medidas para reconstruir imágenes tridimensionales. La morfología de la fluorescencia tridimensional construida por el análisis se puede observar a través del software k1 - 3dvieer, y se puede analizar por separado la imagen de fluorescencia bidimensional que mide cada medición, ajustar el LUT y derivar valores de intensidad en áreas específicas, y el tamaño tridimensional de la parte de fluorescencia se puede medir a través del software k1 - image.
5. función Video
Al medir varias fotos consecutivas y conectarlas, se puede conectar en un solo video. Se puede ajustar el tamaño del video reconfigurando el número de cuadros en los que se guarda el video.
6. Stitch y EDF Stitch (empalme plano y empalme profundo)
Stitch es una función de empalme plano que solo escanea y empalma imágenes en el mismo plano focal. EDF Stitch es hacer z - SNAP y Stitch al mismo tiempo en cada punto de escaneo (la ventaja es que se pueden ver imágenes profundas, la desventaja es que lleva más tiempo)
7. time lapse (retraso)
Al establecer el intervalo de tiempo para el rodaje y el número total de hojas que deben tomarse, se puede configurar la función de retraso (especialmente adecuada para rastrear la actividad celular y observar la División celular)
8. escaneo automático de la Plataforma de pozo (escaneo automático de la placa de agujero)
Después de seleccionar esta función, dependiendo del tipo de placa de agujero seleccionado, aparecerán automáticamente cada coordenada de placa de agujero correspondiente, haciendo clic en cada coordenada, para mover automáticamente el objetivo a la placa de agujero correspondiente y luego escanearlo.
Software (software):

Exhibición tridimensional (z - pila) (exhibición tridimensional):
Z - Stack es utilizar el movimiento hacia arriba y hacia abajo del eje Z para obtener una sección óptica vertical y luego construir una imagen 3d, después de seleccionar el método de medición que el usuario quiere (hay tres métodos de medición disponibles: Top / bottom, Center / range, Upper / lower), establecer el rango de escaneo del eje Z (rango de escaneo), intervalo de la sección óptica, número de secciones de la sección óptica (¿ de sección)

Time lapse (función de retraso):

Campo de aplicación (campo de aplicación):


