Medidor de espesor de película microespectral

Medidor de espesor de película microespectral

Medidor de espesor de película microespectral

● El medidor de espesor de película óptica de la serie optm es un nuevo medidor de espesor de película óptica de alta precisión y relación calidad - precio que puede reemplazar el elipsometro para probar el espesor de la película, el índice de refracción n, el coeficiente de extinción K y la reflectividad absoluta. Es adecuado para la prueba de varias películas transparentes y tiene la capacidad de eliminar el reflejo de la parte posterior del sustrato transparente, logrando así el propósito de la prueba de "reflectividad real y espesor de la película". Además, el software es fácil de operar, fácil de usar y simplifica el complejo proceso de modelado.

● sin contacto, sin destrucción, la cabeza de medición se puede integrar libremente en el sistema del cliente

● Los principiantes también pueden analizar fácilmente el modo de análisis de los principiantes de modelado

● medición de alta precisión y alta reproducibilidad de la reflectividad absoluta dentro de la banda ultravioleta a infrarrojo cercano, que puede analizar el espesor de la película multicapa y las constantes ópticas (n: índice de refracción, k: coeficiente de extinción)

● El enfoque de un solo punto y la medición se completan en 1 segundo

● sistemas ópticos de amplia gama bajo microlitografía (ultravioleta a infrarrojo cercano)

● el cabezal de prueba independiente responde a diversas necesidades personalizadas en línea

● el punto mínimo correspondiente es de aproximadamente 3 μm

Proyecto de medición

● análisis de la reflectividad absoluta

● análisis de películas multicapa (50 capas)

● constantes ópticas (n: índice de refracción, k: coeficiente de extinción)

Las muestras de sustrato transparente, como la película o el vidrio, no se pueden medir correctamente debido a la reflexión interna del sustrato. La serie optm utiliza lentes objetivo que eliminan físicamente el reflejo interno y permiten mediciones de alta precisión incluso en sustratos transparentes. Además, para muestras como películas ópticas heterogéneas o sic, las películas superiores también se pueden medir por separado sin verse afectadas por ellas.

(no. 5172203)

Alcance de la aplicación

● semiconductores, semiconductores compuestos: semiconductores de silicio, semiconductores de carburo de silicio, semiconductores de arsénico y galio, fotorresistentes, materiales de constante dieléctrica

● fpd: lcd, tft, OLED (el orgánico)

● almacenamiento de datos: dvd, película de cabeza magnética, material magnético

● materiales ópticos: filtros ópticos, película antirreflectante

● pantalla plana: pantalla lcd, Transistor de película delgada, OLED

● películas: películas ar, películas hc, películas pet, etc.

● otros: materiales de construcción, pegamento, dlc, etc.

Marcas de agencia: CCS Xi Speed Sen rison, Eye iwasaki, revox lebox, seric solek

Sonic sonic, sanko sangao, newkon xinguang, NPM sunmai, Sugiyama Sugiyama

NS Japan science, dry - Cabi donglifan, tokisangyo dongji, sibata chaida

Marcas dominantes: ushio niuwei, topcon topcon, funatech Shipbuilding yuelong, ORC oasi, Hayashi Lin Shiji

Sagade, sakazume sakaki, DNP Big Japan research, Tokyo Denshoku electrocolor, KKIMAC

S - vans swans, orihara zheyuan, CEO de Lu jiou, hikariya Optics house, Yamada Optics

Y aid, T & D tiante, jikco jigao, DKK - Toa East Asia radio, Okano Okano

Imv AI muwei, mitutoyo sanfeng, Kyowa republic, onosokki ono, Sanei sanrong

Heidon xindong, kurabo cangfang, Showa showa, thinky New base