Analizador de parámetros de semiconductores fs800 de guilun Electronics

Analizador de parámetros de semiconductores fs800 de guilun ElectronicsIntroducción:

El analizador de parámetros de dispositivos fs800 es una nueva generación de equipos de análisis de características eléctricas de dispositivos semiconductores de Guillén electronics, que tiene las características de una configuración funcional integral y flexible. en un solo equipo, se realiza la prueba de voltaje de corriente (iv), la prueba de voltaje capacitivo (cvs), la generación y prueba de formas de onda rápidas, la Prueba de ruido de baja frecuencia y la adquisición de señales de dominio de tiempo de alta velocidad. puede ser ampliamente utilizado en la investigación de nuevos materiales y dispositivos, la prueba de parámetros eléctricos, la prueba de datos de modelos de dispositivos, la prueba de fiabilidad y otros campos.

El dispositivo tiene una interfaz intuitiva de pantalla táctil de 18,5 pulgadas, utiliza una arquitectura de hardware de prueba y un bus de datos desarrollados de forma independiente, y el anfitrión del sistema de caracterización de semiconductores eficiente y escalable puede estar equipado con hasta 24 SMU de alta precisión autodesarrollados o interruptores de matriz de baja fuga de 132 canales. Al mismo tiempo, se pueden seleccionar kits de generación y prueba de ondas rápidas y módulos LCR de alta precisión en función de las necesidades, proporcionando diversas soluciones de prueba automatizadas de parámetros eléctricos a nivel de obleas a través de un solo equipo. El software de prueba labexpress incorporado al instrumento está equipado con una rica Biblioteca de algoritmos de prueba incorporados, que puede controlar de manera eficiente y colaborativa equipos de prueba guillén, instrumentos de terceros, mesas de sonda semiautomáticas y totalmente automáticas y otros equipos.

La capacidad integral y flexible de análisis de pruebas del fs800 puede acelerar enormemente el proceso de investigación y desarrollo y evaluación de dispositivos y procesos semiconductores y satisfacer las necesidades de varios laboratorios de semiconductores y pruebas de línea de producción.

Áreas de aplicación:

·CMOSPrueba de parámetros

- MOSFETyBJTPrueba de parámetros de Transistor

-Diodos yPNPrueba de parámetros de unión

- MEMSPrueba de parámetros con sensores

• pruebas de parámetros de nuevos materiales y nuevos dispositivos

-Prueba de parámetros de Transistor de película fina y dispositivo de visualización

-Prueba de parámetros de materiales bidimensionales y fotodetectores

-Memoria no volátil y prueba de parámetros de materiales

-Pruebas de dispositivos neuromorfológicos, memristers y otros parámetros

-Prueba de parámetros de dispositivos electrónicos flexibles y dispositivos electrónicos portátiles

- Análisis de las características de los dispositivos semiconductores

• modelado de dispositivos semiconductores

- pruebas de fiabilidad de dispositivos semiconductores

• pruebas de línea de producción

- plataformas de hardware eficientes y escalables

-Arquitectura de hardware de prueba y bus de datos desarrollados de forma independiente

-Puede soportar hasta 24 unSMU, o 132 Interruptor de matriz del canal

-Puede apoyarse al mismo tiempoSMUY el módulo de conmutación de matriz para realizar obleas en un solo dispositivo de escritorio

Pruebas automatizadas de parámetros eléctricos de nivel

-Soporte para pruebas paralelas multicanal y pruebas paralelas multipunto

-EscalableGPIBinterfaz

-EscalablePXIcaja

·FS810alta precisiónSMU

- 0.1fAAlta resolución

-La precisión máxima de la prueba de corriente puede alcanzar15fA

-Tensión máxima200V, corriente máxima1A, potencia máxima de corriente continua20 W

- 1,5 ms/sAdquisición de señales de dominio de tiempo con tasa de muestreo

·FS821Módulo de salida del interruptor de matriz de baja fuga

- 12Tres interfaces de salida triaxiales

- 200VTensión de carga,1ACorriente de carga

- 100fACorriente de desplazamiento

- 30MHzAncho de banda

·FK401BKit de generación y prueba de ondas rápidas

- 2Uno rápidoIVCanal, tensión máxima10V, corriente máxima10 mA

- 100ms/sAdquisición de señales de dominio de tiempo de alta velocidad con tasa de muestreo

-Pulso rápidoIVPrueba, ancho mínimo del pulso130ns

-apoyoSMUDirecto

-Se puede ampliar hasta el máximo 5 Módulo (s)10 通道）

·FS338 / FS339alta precisiónLCRmódulo

- 40VRango de sesgo de corriente continua

- FS338Ancho de banda:20Hz ~ 2MHz

- FS339Ancho de banda:20Hz ~ 10MHz