Medidor inteligente de espesor de recubrimiento fluorescente de rayos X

El thick800a inteligente es un medidor de espesor de película de shangzhao desarrollado especialmente por Tianrui Instrument co., ltd., que combina muchos años de experiencia en medidores de espesor de fluorescencia de rayos X. La apariencia del instrumento es simple y generosa, a través del Movimiento tridimensional automatizado del eje x, el eje y, el eje z, el sistema de posicionamiento y protección láser doble, se realiza un análisis rápido, enfocado y preciso de muestras de diversas formas simples y complejas, como planos, cóncavos y convexos, esquinas y superficies de arco.

Ventajas de rendimiento

Configuración: se utiliza un detector SDD de alta resolución; Resolución hasta 140 EV
Diseño de iluminación superior - realizar la detección rápida, precisa, estable y eficiente de muestras de superficie pequeñas e irregulares como arcos, formas de diseño de iluminación superior de arcos, ranuras, hilos y otras formas especiales
El dispositivo de enlace automatizado de alta precisión del eje x, el eje y y el eje Z realiza una detección precisa y rápida de enfoque de las muestras.
El láser de posicionamiento automático de altura permite localizar la altura de prueba de manera rápida y precisa para satisfacer las pruebas de recubrimiento de diferentes tamaños.
Se pueden elegir varios agujeros de alineación: agujeros de alineación: 0,05 * 0,3 mm; 0,1 mm; Ф0.2mm； Ф0.3mm； Ф0.5mm
Posicionamiento preciso: las muestras se pueden localizar rápidamente y con precisión
Fácil de operar - diseño integrado inteligente totalmente automático para que la detección se complete fácilmente

Ventajas tecnológicas

Configuración del instrumento alta

Figura 1

Figura 2

Medidor inteligente de espesor de recubrimiento fluorescente de rayos X

El think 800a inteligente utiliza detectores de refrigeración eléctrica de semiconductores SDD de la industria, con una resolución de hasta 140 ev, que pueden distinguir bien los picos espectrales de los elementos adyacentes.
Tomando como ejemplo el recubrimiento de AU / NI / cu, el espectro del instrumento de caja de conteo proporcional se muestra en la figura 1. a partir del espectro, se puede ver que los picos espectrales de los dos elementos de cobre y níquel se superponen seriamente, y la forma del pico de oro se superpone al Fondo de la muestra. No es propicio para el análisis preciso de los elementos.
La figura 2 muestra el espectro de la prueba de AU / NI / cu por instrumentos SDD semiconductores. a partir del espectro, se puede ver que los picos espectrales de los tres elementos de cobre, níquel y oro se distinguen claramente, lo que favorece el análisis preciso de los elementos.

Diseño de rutas de luz enfocadas

El inteligente Thick 800a utiliza un dispositivo de intercambio de Camino óptico * para que los rayos X y la luz de la Cámara estén en la misma línea vertical, logrando que el punto láser y el punto de prueba estén integrados, y los rayos X estén altamente enfocados; Cooperar con el software pm para lograr la función de zoom de enfoque y realizar pruebas precisas de muestras pequeñas e irregulares; El ángulo entre el dispositivo de intercambio de ruta óptica altamente integrado y el receptor se puede duplicar, lo que reduce efectivamente el error causado por la inclinación del arco.

Filtro especial para lograr la medición de fondo bajo

A través de un filtro especial, se puede reducir efectivamente la absorción y el fortalecimiento de la fluorescencia de rayos x, reducir la dispersión del fondo, aumentar el límite de detección de elementos metálicos ultrafinos (puede alcanzar 0005 um) y realizar el análisis del espesor de la capa metálica ultrafina.

Tecnología de posicionamiento de alta precisión

La plataforma móvil de alta precisión puede localizar con precisión el punto de prueba, y la precisión de posicionamiento repetido del motor de la Plataforma es inferior a 0005 mm; la plataforma móvil se puede visualizar a través del software de prueba: el ratón puede controlar la Plataforma móvil, y la posición del clic del ratón es el punto medido.

Algoritmo FPS

La tecnología central de análisis inteligente Thick 800a - algoritmo pm
Detección precisa del espesor de los elementos
Análisis de microregión, análisis de película delgada, análisis de líneas espectrales avanzadas

Software de prueba más profesional y humano

① la interfaz principal aumenta la función de conmutación rápida de la curva;
② no se necesita Ctrl para cambiar el atajo de movimiento del ratón, donde se hace clic en el ratón, la Plataforma de muestra se moverá, lo que es más conveniente para los clientes probar;
③ el espesor del recubrimiento se determina automáticamente, y el cliente puede personalizar los criterios de juicio según sea necesario;
④ la interfaz de la curva de trabajo se puede editar añadiendo el nombre de la nota, y se puede mostrar en la interfaz de la curva de la interfaz principal, haciendo notas sobre los elementos en inglés, lo que facilita la distinción del cliente, la interfaz es más amigable con el cliente
⑤ generación automática de informes de prueba, visualización de datos históricos de prueba, recuperación, etc.
Soluciones industriales, como componentes de precisión, neodimio, hierro, boronio, níquel, cobre y níquel, pintura electrolítica para medir el espesor, película plástica de aluminio para probar el espesor del aluminio, etc.