El modo de imagen de dispersión de interferencia térmica $r $n • del sistema de imagen de carga de la batería in situ refleja la formación, migración y distribución de compuestos iónicos. $r $n • Se pueden obtener imágenes de dispersión de interferencia y resultados de Raman / mapping en la misma región de la muestra in situ. $r $n • mayor resolución espacial.. 300nm@720nm Longitud de onda). Funciones de operación automatizada y adquisición de datos como $r $n • Enfoque automático para garantizar la estabilidad y facilidad de uso del camino óptico.
Imagen de dispersión de interferencia electroquímica in situ - sistema de correlación Raman confocal
Alta resolución, caracterización in situ, soluciones especiales de Observación de migración iónica
La imagen de dispersión de interferencia se basa en la expansión de la tecnología de imágenes microscópicas, con tecnología de imágenes de alta resolución y Alto contraste. Utiliza la iluminación de campo ancho del láser para obtener la señal de dispersión del láser de la muestra, y luego toma imágenes de la superficie de la muestra a través de la interferencia. Debido a que la señal de interferencia es inusualmente sensible a los cambios en el índice de refracción de la superficie de la muestra, es posible visualizar los cambios sutiles en la superficie de las partículas causados durante el proceso de carga y descarga electroquímica a una alta resolución espacial, y reflejar el proceso de formación, transformación y migración de compuestos iónicos durante la carga y descarga con un alto contraste y analizar su mecanismo electroquímico.
El sistema también combina la tecnología de microimagen Raman confocal, que puede realizar imágenes de dispersión de interferencia y caracterización del espectro Raman confocal en el mismo lugar de la muestra, caracterizando así de manera integral los cambios en la estructura, composición y otras propiedades del material durante la carga y descarga, así como el proceso de migración de iones.
Sistema de imagen de carga de batería in situCaracterísticas principales
• patrones especiales de imagen de dispersión de interferencia que reflejan la formación, migración y distribución de compuestos iónicos.
• Se pueden obtener in situ imágenes de dispersión de interferencia y resultados de Raman spectro / mapping en la misma región de la muestra.
- mayor resolución espacial (longitud de onda de 300nm 720 nm).
• operaciones automatizadas y funciones de adquisición de datos, como el enfoque automático, para garantizar la estabilidad y facilidad de uso del camino óptico.

Sistema de imagen de carga de batería in situáreas de aplicación
- electroquímica, materiales de batería
- materiales micro - nano como materiales bidimensionales

Rango espectral |
300-1050nm |
Resolución espectral de Raman |
< 1cm - 1 (excitación a 532 nm) |
Número de ondas de corte raman: |
< 100 cm - 1 (excitación a 532 nm) |
Resolución espacial de la imagen de dispersión de interferencia |
300 nm |
Mesa de muestras |
X = 50 mm * Y = 50 mm, Z = 20 mm La precisión de paso es mejor que 0,05 micras y la precisión de repetición es de 2 micras. |
Función característica |
Enfoque automático, dispersión de interferencia in situ - imagen de correlación espectral Raman |