Dispositivo de prueba xafs in situ para la reacción de alta temperatura en fase gaseosa y sólida

Dispositivo de prueba xafs in situ para la reacción de alta temperatura en fase gaseosa y sólidaParámetros;

1. el dispositivo puede realizar el cambio entre el modo de prueba de fluorescencia de rayos X de Radiación Sincrotrón y el modo de prueba de transmisión;

2. el dispositivo incluye un controlador de temperatura, una cavidad de piscina in situ, un sistema de calefacción y un software de computadora superior;

3. el dispositivo adopta el control inteligente de la eip, la transmisión de señal usb, la adquisición de datos de la curva de temperatura, que se puede almacenar y extraer;

4. se puede corregir el control de temperatura multipunto, la temperatura se puede establecer en un límite y la temperatura se puede establecer en varios segmentos del programa;

5. rango de temperatura: temperatura ambiente - 800 ℃, precisión de control de temperatura inferior a 0,5 ℃, tasa de calentamiento: 80 ℃ / min;

6. el dispositivo adopta el calentamiento por resistencia eléctrica, y el sensor se coloca debajo de la muestra, lo que puede reflejar intuitivamente los cambios de temperatura reales de la muestra;

7. el diámetro de la muestra es de 11 MM (personalizable) y el diámetro de la ventana es de 30 mm;

8. la ventana del dispositivo utiliza poliimida, la pérdida de señal es pequeña y no tóxica;

9. el dispositivo está sellado con un anillo o, bien sellado, se puede bombear vacío y se puede cargar con gas de reacción;

10. el dispositivo está hecho de aluminio de aviación, con una forma del dispositivo de 90 mm * 66 mm * 30 mm y un peso neto inferior a 0,5 kg;

11. método de enfriamiento de la cavidad: enfriamiento con agua circulante;

12. el dispositivo de prueba xafs in situ para la reacción de alta temperatura de estado sólido de gas es fácil de operar, fácil de instalar y buena consistencia de la prueba.