Banco de pruebas de rayos X in situ de alta temperatura controlable

El Banco de pruebas de rayos X in situ de alta temperatura controlable es un equipo de investigación científica que integra las funciones de control de alta temperatura y análisis de difracción de rayos X. Es adecuado para el análisis cualitativo y cuantitativo de la fase de los materiales cristalinos, la indexación del espectro de refracción y la determinación de los parámetros de la matriz de puntos, la determinación del tamaño del grano y la distorsión de la matriz de puntos, la determinación de la fase de las películas finas y el análisis dinámico de los cambios estructurales de alta temperatura in situ.

I. Resumen del producto:

Banco de pruebas de rayos X in situ de alta temperatura controlableSe utiliza principalmente para estudiar los cambios estructurales y las propiedades de los materiales en entornos de alta temperatura, y es adecuado para el análisis cualitativo y cuantitativo de la fase de los materiales cristalinos, la indexación del espectro de refracción y la determinación de los parámetros de la matriz de puntos, la determinación del tamaño del grano y la distorsión de la matriz de puntos, la determinación de la fase del módulo delgado y el análisis dinámico de los cambios estructurales de alta temperatura in situ. Con este dispositivo, los investigadores pueden observar directamente la evolución estructural de los materiales a altas temperaturas sin destruir muestras, proporcionando un fuerte apoyo para la investigación en Ciencias de los materiales, química, física y otros campos.

2. parámetros del dispositivo:

1. el dispositivo incluye un controlador de temperatura, una cavidad de piscina in situ, un sistema de calefacción, un software de computadora superior y un sistema de vacío;

2. el dispositivo adopta el control inteligente de la eip, la transmisión de señal usb, la adquisición de datos de la curva de temperatura, que se puede almacenar y extraer;

3. se puede corregir el control de temperatura multipunto, la temperatura se puede establecer en un límite y la temperatura se puede establecer en varios segmentos del programa;

4. rango de temperatura: temperatura ambiente - 1000 ℃, precisión de control de temperatura inferior a 0,3 ℃, tasa de calentamiento: 80 ℃ / min;

5. el dispositivo adopta el calentamiento por resistencia eléctrica, y el sensor se coloca debajo de la muestra, lo que puede reflejar intuitivamente los cambios de temperatura reales de la muestra;

6. el diámetro de la Mesa de aumento de temperatura es de 25 mm, la ventana adopta una estructura semiesférica, el plano es de 360 ° recolección sin tapujos, y el material Peek importado;

7. el dispositivo está sellado con un anillo o, bien sellado, se puede bombear vacío y se puede cargar con gas de reacción;

8. el dispositivo está hecho de aluminio de aviación, con una forma del dispositivo de 110 mm * 80 mm * 50 mm y un peso neto de 0,5 kg;

9.Método de enfriamiento de la cavidad: enfriamiento con agua circulante;

10.Dispositivo. Operación simple, instalación conveniente y buena consistencia de la prueba;

11. el dispositivo es ampliamente utilizado en las principales marcas de difractores convencionales y en la radiación sincrotrón, sin necesidad de modificar el instrumento.

3. áreas de aplicación:

Banco de pruebas de rayos X in situ de alta temperatura controlableEs ampliamente utilizado en la investigación de Ciencias de materiales, química, física y otros campos, especialmente en la investigación de cambios estructurales, propiedades y mecanismos de reacción de materiales a altas temperaturas.

En resumen, es un equipo de investigación científica potente, fácil de operar y mantener, que proporciona un fuerte apoyo para la investigación en Ciencias de materiales, química, física y otros campos.