Espectro de absorción de rayos X in situ

La espectrometría de absorción de rayos X in situ revela la Ley de evolución estructural de los materiales en un entorno real monitoreando las señales de borde cercano (xanes) y borde extendido (exafs) del borde de absorción en tiempo real durante el proceso de reacción, proporcionando una base directa para comprender la relación estructura - actividad y optimizar el diseño de los materiales.

La espectrometría de absorción de rayos X in situ utiliza fuentes de luz de rayos X convencionales para realizar la medición espectral de la estructura fina de absorción de rayos X (xafs), que tiene un buen papel complementario y de expansión en las principales infraestructuras científicas y tecnológicas, como la radiación sincrotrón, así como en instrumentos científicos como el microscopio electrónico y el difractómetro de rayos X. ¡¡ este producto ha sido comprado por la Universidad de pekín, la Universidad de Aeronáutica y Astronáutica de beijing, la Universidad de tianjin, la Universidad de energía eléctrica del Norte de china, la Universidad de qinghai, la Universidad de Anhui y muchas otras universidades, ayudando efectivamente a la investigación científica relevante y el desarrollo de aplicaciones!

· soporte para la función de barrido rápido cercano;

· soporte para funciones extendidas como pruebas in situ;

· diseño altamente ergonómico, operación más conveniente;

· preestablecimiento de parámetros experimentales incorporados para lograr una medición rápida;

· diferentes muestras y diferentes modos de medición cambian automáticamente con un solo clic;

· transmisión remota de datos, visualización en tiempo real de procesos y resultados experimentales para apoyar pruebas no tripuladas;

· soporte técnico de aplicación profesional y soporte de análisis de datos;

· El instrumento tiene la calificación de exención de radiación y múltiples entrelazados de protección de Seguridad para garantizar la seguridad personal y de uso.

　　Cristal Curvo especial xafs:

· las diferentes superficies de cristal están bien configuradas para lograr la cobertura de varios elementos;

· instalación precontaminada, Plug and play;

· los cristales de flexión especiales se pueden personalizar de acuerdo con los elementos necesarios para lograr el mejor rendimiento.

　　Mecanismo de escaneo de energía para la prueba del espectro de absorción de rayos X del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (xafs):

· mecanismo de escaneo vinculado;

· lograr una vinculación precisa entre la fuente de luz, el cristal curvo, la muestra y el detector;

· alta precisión y resolución, buena estabilidad.