Medidor de espesor de recubrimiento de rayos X Hitachi

NegociableActualización en10/07

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Naturaleza del fabricante: Productores

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Descripción general

El analizador de espesor y material de recubrimiento de rayos X de haz micro facilita el control de calidad rápido y las pruebas de verificación, y los datos precisos se pueden obtener en pocos segundos.

Detalles del producto

El analizador de espesor y material de recubrimiento de microhaz XRF facilita el control de calidad rápido y las pruebas de verificación, y los datos precisos se pueden obtener en pocos segundos.

El análisis del grosor del recubrimiento y los materiales basado en la fluorescencia de rayos X es un método de análisis ampliamente reconocido en la industria, que proporciona análisis fáciles de usar, rápidos y no destructivos, casi sin preparación de muestras, y puede analizar muestras sólidas o líquidas de 13al a 92u en la tabla periódica.

aplicación

Tratamiento de superficie de PCB / pwb

La capacidad de controlar el proceso de tratamiento de superficie determina el grado, la fiabilidad y la vida útil de la placa de circuito. El espesor de la galvanoplastia y la estructura de la composición del níquel no electrochapado (en, nip) se miden de acuerdo con IPC 4556 e IPC 4552. Los productos de instrumentos de análisis Hitachi le ayudan a operar continuamente dentro de un estricto control, asegurando una alta calidad y evitando retrabajos caros.

Galvanoplastia de componentes eléctricos y electrónicos

Las piezas deben ser galvanizadas dentro de las especificaciones para lograr las propiedades eléctricas, mecánicas y ambientales esperadas. Los productos de las series X - Strata y maxxi ranurados permiten medir pequeñas probetas o muestras de bandas continuas, logrando así el control del espesor de la prepapa superior e neutralizante del marco de alambre (marco de alambre), los enchufes del conector, el alambre y los terminales.

Placa portadora IC

Los dispositivos semiconductores son cada vez más pequeños y complejos, y es necesario analizar equipos para medir sus películas finas en la comunidad. El analizador del instrumento de análisis Hitachi está diseñado para proporcionar análisis de alta precisión y datos bien repetitivos para las aplicaciones necesarias para los clientes.

Proceso de fabricación electrónica de servicios (ems, ecs)

Combinando componentes adquiridos y fabricados localmente y múltiples puntos de prueba relacionados con productos, se realiza desde la inspección de entrada en la fábrica hasta el control del proceso de la línea de producción, pasando por el control final de calidad. Los productos de radiofrecuencia de manchas microfocales de Hitachi Analytics instruments le ayudan a analizar componentes, soldadura y productos finales en toda la cadena de producción, asegurando la calidad de cada etapa.

Productos fotovoltaicos

La demanda de energía renovable está aumentando, y la fotovoltaica juega un papel importante en la recolección de energía solar. La capacidad de recoger eficazmente esta energía depende en parte de la calidad de las células solares de película delgada. El micro - Haz XRF puede ayudar a garantizar la precisión y coherencia de los recubrimientos de estas baterías, garantizando así la máxima eficiencia.

Materiales restringidos y cribado de alta fiabilidad

En colaboración con complejas cadenas de suministro mundiales, es fundamental verificar e inspeccionar los materiales recibidos de los proveedores. Utilizando la tecnología de rayos X del instrumento de análisis hitachi, se verifica si la compra cumple con los requisitos regulatorios de RoHS y elv de acuerdo con el método IEC 62321, asegurando que el recubrimiento de alta fiabilidad se aplica en los campos de la aviación y el ejército.

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