Microscopía electrónica de barrido de emisiones del sitio frío Hitachi Regulus 8100

Características principales:
1. equipado con función de desaceleración de tensión acelerada, excelente capacidad de imagen de baja tensión acelerada, con una resolución de 1 Kv de hasta 1,1 nm
2. la tecnología e × B patentada por hitachi, sin necesidad de pulverización, puede observar directamente muestras no conductoras.
3. equipado con un calentador incorporado de pistola electrónica, la apertura de la lente tiene una función de autolimpieza
4. función de combinación proporcional arbitraria se y BSE

Áreas de aplicación:
1. nanomateriales
2. dispositivos semiconductores
3. materiales poliméricos
4. biomedicina
5. nuevas fuentes de energía