Microscopía electrónica de barrido de alta resolución

Quartro Sem es extremadamente flexible y versátil con función de vacío ambiental.Microscopía electrónica de barrido de alta resoluciónSe puede combinar el rendimiento integral de la imagen y el análisis con el modo ambiental (esem), lo que permite que el estudio de la muestra se lleve a cabo en estado natural.

Cuatro SEMMicroscopía electrónica de barrido de alta resoluciónParámetros:

Fuente de lanzamiento: cañón de electrones de lanzamiento de campo Schottky de alta estabilidad

Resolución:

Ampliación: 6 a 250.000 ×
Rango de tensión de aceleración: 200v a 30kv
Rango de corriente de la sonda: 1pa - 200na, ajustable continuamente
Distancia de trabajo de X - ray: 10 mm, ángulo de detección de EDS 35 °
Sala de muestras: gran espacio de almacenamiento de 340 mm de ancho de izquierda a derecha, la Sala de muestras puede ampliar el número de interfaces en 12, incluyendo 3 interfaces de espectrómetro de energía (2 de ellas en posición diagonal de 180 °)

Mesa de muestras y muestras:

Sistema detector:

Detección simultánea de hasta cuatro señales, incluyendo

Detector electrónico secundario de alto vacío ETD en la Sala de muestras
Detector electrónico secundario de bajo vacío lvd
Gas sed (gsed, para modo de escaneo ambiental)
Cámara infrarroja ir - CC en la Sala de muestras (observar la altura de la Mesa de muestras)
Cámara óptica en color NAV - Cam disponible para la navegación de muestras ™

Sistema de control:
Sistema operativo: 64 es Gui (windows 10), teclado, ratón óptico
Imagen: pantalla LCD de 24 pulgadas, wuxga 1920 × 1200
Interfaz de usuario de imagen personalizada que permite activar hasta cuatro vistas al mismo tiempo
Montaje de navegación
El software admite funciones undo y redondo