- Correo electrónico
- Teléfono
-
Dirección
Habitación 611, edificio 2, Avenida tongjin, zona de desarrollo económico y Tecnológico de wujiang, ciudad de suzhou, Provincia de Jiangsu
Categorías de producto
Suzhou Ivan zhitong Instrument Technology co., Ltd.
Xrd de escritorio de alta potencia
NegociableActualización en07/06
- modelo
- Naturaleza del fabricante
- Productores
- Categoría de producto
- Lugar de origen
Descripción general
El difractómetro de rayos X de alta potencia evastar Y2 es un difractor de escritorio que combina una fuente de rayos X de alta potencia y un detector de matriz bidimensional de lectura directa de fotones de rayos X de alta eficiencia de detección. actualmente, el difractor de escritorio de alta potencia con un excelente rendimiento en el mercado. La Potencia de rayos X de $r $nevastar Y2 es de 1600 vatios, el goniómetro tiene una estructura Theta - 2 Theta o Theta - theta, y el instrumento está equipado de serie con un detector de lectura directa fotónica de 256x256 píxeles. al tiempo que garantiza datos de medición precisos, la gran mayoría de las muestras de polvo pueden obtener datos de difracción con buena intensidad y relación señal - ruido en pocos minutos.
Detalles del producto
Parámetros técnicos del difractómetro de rayos X de alta potencia
Tamaño y peso del instrumento |
900 mm x680 mm x550 mm, 100 kg |
Potencia de rayos X |
1600W |
Objetivo del tubo de rayos X |
Objetivos cerrados convencionales, objetivos de cobre o objetivos de co opcionales |
Goniómetro |
Theta - 2 Theta o Theta - Theta vertical, con un radio de 170 mm |
Detector |
Detector de matriz bidimensional de lectura directa de fotones |
Resolución energética del detector |
0.2 |
Rango de ángulo |
- 3 ° a 156 ° |
Precisión del ángulo |
± 0,01 ° |
Comparación entre el pico teórico y el pico medido de la muestra estándar de corindón
Medición repetitiva del instrumento
Casos de aplicación:
Datos de prueba del polvo de Corindón (10 grados / min)
Espectro xrd del material ternário, el negro es el dato del modo de medición ordinario y el azul es el dato del modo de desfosforación.
Análisis cuantitativo de muestras sin estándar de muestras de cemento
Espectro de medición de muestras cerámicas de nitruro de silicio
Medición del grado de grafitización
Patrones de difracción y refinamiento estructural de materiales ternários
Medición de la batería in situ reflectante
Mapa de difracción de ángulo pequeño (saxrd) de materiales mesoporosos sba15
Mapa de escaneo de incidencia de pastoreo (gid) de vidrio Ito de 20 nanómetros
Mapa de medición de la reflectividad del vidrio Ito de 20 nanómetros (xrr)
Mapa de datos de medición de tensión residual del metal de aluminio
Dirección de la aplicación:
Análisis cualitativo y cuantitativo de la fase física
Análisis cuantitativo sin etiqueta
Análisis del tamaño del grano
Análisis in situ
Tensión residual del metal
Análisis de la cristalinidad y el contenido de fases amorfas
Refinamiento estructural y análisis
Medición precisa de los parámetros de la matriz de puntos
Análisis de microtensión
Medición de materiales mesoporosos de bajo ángulo
Análisis de textura
Incidencia de pastoreo de película delgada
Medición de la reflectividad de la película delgada
Producto similar Recomendar
