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Medidor de espesor de recubrimiento galvánicoEl EDX2000A

Medidor de espesor de recubrimiento galvánicoEl EDX2000A Es un medidor de espesor de recubrimiento con estructura de iluminación inferior desarrollado especialmente con muchos años de experiencia en medidores de espesor por fluorescencia de rayos X. No solo puede medir con precisión los productos recubiertos de diversas formas convencionales, sino que también se puede probar para varios perfiles que no son fáciles de medir. Se puede utilizar ampliamente en la industria fotovoltaica, hardware y baño, electrónica y electricidad, aeroespacial, materiales magnéticos, industria automotriz, industria de las comunicaciones y otros campos.
Medidor de espesor de recubrimiento galvánicoEl EDX2000A Configuración de hardware
Las unidades de alta tensión de alta potencia se combinan con tubos de rayos X con manchas de enfoque micro, lo que garantiza en gran medida la eficiencia y estabilidad de la salida de la señal.
Edx2000a puede analizar con precisión diferentes elementos, y tiene ventajas incomparables para la medición de recubrimientos múltiples y complejos de aleación.
En la selección de colimadores, edx2000a también tiene una gran ventaja, puede seleccionar colimadores más pequeños: 0,1 * 0,3 mm, 0,15 mm en el medio; 0,2 mm en el medio; 0,3 mm en el medio; 0,5 mm en el medio, etc. Los puntos de luz ultrapequeños obtenidos con colimadores ultrapequeños también hacen que la medición de muestras más pequeñas sea fácil.
Medidor de espesor de recubrimiento galvánicoEl EDX2000A Funciones del producto:
1. detector profesional de espesor de recubrimiento, utilizando si - Pin de alta resolución (o detector de deriva de silicio sdd), precisión de medición y resultados de medición de la industria.
2. con la tecnología flexible CF - multi, ya sea el control de calidad durante el proceso de producción o la inspección aleatoria por muestreo y la inspección en la inspección de materiales entrantes y la inspección de rendimiento de materiales, proporcionaremos una experiencia amigable y satisfaremos las necesidades de la prueba.
3. la plataforma micro - Móvil y el CLD de alta definición se combinan, el ajuste de la perilla está diseñado en el exterior de la carcasa, y la observación de la posición de movimiento es simple y conveniente.
4. la aplicación de la tecnología de fluorescencia de rayos X para probar el espesor del recubrimiento mejora las condiciones de inspección de la producción en masa de productos de galvanoplastia, no destructivos, rápidos y más características, y garantiza la mejora de la calidad en la industria electrónica y de semiconductores.
5. El medidor de espesor del recubrimiento adopta la nueva tecnología de huawei, flexible - multi, que no está limitado por la muestra estándar, y el espesor del recubrimiento de la muestra se puede probar directamente sin la muestra estándar del recubrimiento, y los resultados de la prueba pueden resistir la verificación científica.
6. el Movimiento de la muestra está diseñado para ajustarse externamente a la cavidad de la muestra, y es conveniente y rápido mover la muestra durante la prueba multipunto, lo que ayuda a mejorar la eficiencia.
El diseño es más científico, la cooperación de software y hardware, la vinculación electromecánica, la seguridad de radiación es superior a los requisitos del estándar gbz115 - 2002.
7. la operación del software tiene los derechos de gestión jerárquica del operador, por lo que el operador y el supervisor se conectan con diferentes nombres de usuario y contraseñas, y el registro de la prueba agrega automáticamente el nombre de inicio de sesión del probador al mismo tiempo.
Medidor de espesor de recubrimiento galvánicoEl EDX2000A Indicadores del producto:
Tecnología de medición de espesor: tecnología de medición de espesor por fluorescencia de rayos X
Tipo de muestra de prueba: recubrimiento metálico, recubrimiento de aleación
Límite inferior de medición: 0003um
Límite superior de medición: 30 - 50 um (determinado por elementos de material)
Número de capas de medición: 10 capas
Tiempo de medición: 30 - 120 segundos
Tipo de detector: refrigeración eléctrica si - Pin
Resolución del detector: 145ev
Rango de alta tensión: 0 - 50kv, 50w
Parámetros del tubo de rayos x: 0 - 50kv, 50w, clase de ventana lateral;
Objetivo de tubo óptico: objetivo mo;
Filtro: 3 tipos especiales de conmutación automática;
Observación del cld: 2,6 millones de píxeles
Rango de micromovimiento: xy15 mm
Tensión de entrada: ac220v, 50 / 60Hz
Entorno de prueba: condiciones no de vacío
Comunicación de datos: modo usb2.0
Medidor de espesor de recubrimiento galvánicoEl EDX2000A Aspectos destacados del diseño
